Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2019-05-09.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-04-09.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Auftragsbekanntmachung (2019-04-09) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften
Kurze Beschreibung:
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften📦 Ort der Leistung
NUTS-Region: Berlin
🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Bitte registrieren Sie sich für Teilnahme an der elektronischen Ausschreibung kostenlos unter http://www.subreport.de/ und laden sich die Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb unter der Nummer E44184124 herunter.
Ihre Registrierung gewährleistet, dass Sie alle für den Teilnahmewettbewerb und die AusschreibungrelevantenInformationen, wie Antworten auf Bieterfragen und Änderungen bei den Fristen und Vergabeunterlagen,automatisch an Ihre dort eingetragene E-Mail-Adresse erhalten.
Sofern Sie bereit sind, an der Ausschreibung teilzunehmen, erbitten wir dazu Ihren Teilnahmeantraginelektronischer Form.
Anmerkungen oder Technische Fragen senden Sie bitte ausschließlich über die Vergabeplattform unter Menüpunkt „Nachrichten (Bieterkommunikation)“ in Subreport Elvis Nach Auswertung der Teilnahmeanträgeerhalten alle Teilnehmer die Ihre Leistungsfähigkeit nachweisen konnten die Aufforderung zur Abgabe eines Angebots und die dafür nötigen Vergabeunterlagen nebst Leistungsverzeichnis
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Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)-Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)-Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems
Dauer: 6 Monate Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Labor WCRC Adlershof
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
Kurze Unternehmenspräsentation Erklärung über den Gesamtumsatz des Unternehmens sowie den Umsatz bezüglich der besonderen Leistungsart, die Gegenstand der Vergabe ist, bezogen auf die letzten 2 Geschäftsjahre.
Unterschriebene Eigenerklärung
Mindeststandards: Mindestbedingung: Jahres-Umsatz > 2 x Auftragsvolumen
Technische und berufliche Fähigkeiten:
Die Firma soll mindestens drei Referenzprojekten angeben, wo Systeme mit ähnliche Spezifikationen hergestellt wurden
Mindeststandards: Mind. 3 Referenzsystem
Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Mindestzahl der Bewerber: 3
Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Anzahl von Bewerbern:
Nachweis der fachlichen und wirtschaftlichen Leistungsfähigkeit. Alle Firmen die ihre fachliche und wirtschaftliche Leistungsfähigkeit gemäß der angegebenen Kriterien nachweisen können erhalten nach Prüfung der Teilnahmeanträge eine Aufforderung zur Abgabe eines Angebots sowie die Vergabeunterlagen mit dem Leistungsverzeichnis.
Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Anzahl von Bewerbern
Nachweis der fachlichen und wirtschaftlichen Leistungsfähigkeit. Alle Firmen die ihre fachliche und wirtschaftliche Leistungsfähigkeit gemäß der angegebenen Kriterien nachweisen können erhalten nach Prüfung der Teilnahmeanträge eine Aufforderung zur Abgabe eines Angebots sowie die Vergabeunterlagen mit dem Leistungsverzeichnis.
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 23:45
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2019-05-17 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Englisch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2019-09-30 📅
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Qualität
Qualitätskriterium (Gewichtung): 30 %
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Service
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10 %
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Flexibilität
Qualitätskriterium (Gewichtung): 20 %
Preis (Gewichtung): 40 %
Bitte registrieren Sie sich für Teilnahme an der elektronischen Ausschreibung kostenlos unter http://www.subreport.de/ und laden sich die Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb unter der Nummer E44184124 herunter.
Ihre Registrierung gewährleistet, dass Sie alle für den Teilnahmewettbewerb und die AusschreibungrelevantenInformationen, wie Antworten auf Bieterfragen und Änderungen bei den Fristen und Vergabeunterlagen,automatisch an Ihre dort eingetragene E-Mail-Adresse erhalten.
Ihre Registrierung gewährleistet, dass Sie alle für den Teilnahmewettbewerb und die AusschreibungrelevantenInformationen, wie Antworten auf Bieterfragen und Änderungen bei den Fristen und Vergabeunterlagen,automatisch an Ihre dort eingetragene E-Mail-Adresse erhalten.
Sofern Sie bereit sind, an der Ausschreibung teilzunehmen, erbitten wir dazu Ihren Teilnahmeantraginelektronischer Form.
Anmerkungen oder Technische Fragen senden Sie bitte ausschließlich über die Vergabeplattform unter Menüpunkt „Nachrichten (Bieterkommunikation)“ in Subreport Elvis Nach Auswertung der Teilnahmeanträgeerhalten alle Teilnehmer die Ihre Leistungsfähigkeit nachweisen konnten die Aufforderung zur Abgabe eines Angebots und die dafür nötigen Vergabeunterlagen nebst Leistungsverzeichnis
Anmerkungen oder Technische Fragen senden Sie bitte ausschließlich über die Vergabeplattform unter Menüpunkt „Nachrichten (Bieterkommunikation)“ in Subreport Elvis Nach Auswertung der Teilnahmeanträgeerhalten alle Teilnehmer die Ihre Leistungsfähigkeit nachweisen konnten die Aufforderung zur Abgabe eines Angebots und die dafür nötigen Vergabeunterlagen nebst Leistungsverzeichnis
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Verstöße gegen Vergabebestimmungen sind gegenüber dem Auftraggeber innerhalb von 10 Kalendertagen zu rügen, bei Verstößen, die sich aus der Bekanntmachung oder den Vergabeunterlagen ergeben, bis spätestens zum Ablauf der Angebotsfrist. Teilt der Auftraggeber mit, dass der Rüge nicht abgeholfen wird, kann innerhalb von 15 Kalendertagen ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer gestellt werden. (§ 160 GWB)
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Verstöße gegen Vergabebestimmungen sind gegenüber dem Auftraggeber innerhalb von 10 Kalendertagen zu rügen, bei Verstößen, die sich aus der Bekanntmachung oder den Vergabeunterlagen ergeben, bis spätestens zum Ablauf der Angebotsfrist. Teilt der Auftraggeber mit, dass der Rüge nicht abgeholfen wird, kann innerhalb von 15 Kalendertagen ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer gestellt werden. (§ 160 GWB)
Für Mediationsverfahren zuständige Stelle Wie: Körper überprüfen
Quelle: OJS 2019/S 073-172149 (2019-04-09)
Ergänzende Angaben (2019-04-12) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)-Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems.
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)-Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems.
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2019-07-25) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems.
Lieferung eines AFM Mikroskop Das zu beschaffene Gerät soll ein kombiniertes Rasterkraft (AFM)- Konfokalmikroskop (CFM) für hochauflösende Mikroskopie und lokale Nanomanipulation sein. Mit diesem Mikroskop soll es möglich sein, AFM und optische Untersuchungen gleichzeitig zu messen. Das AFM Scanner soll grobe (3 mm x 3 mm x 2.5 mm) und feine (30 μm x 30 μm x 4 μm) Positionierung der Probe mit closed-loop Funktion haben. Außerdem soll das System erlauben, Experimente sowie bei Raumtemperatur als auch bei Tiefentemperaturen durchzuführen. Zusätzlich ist ein 3D Vektormagnet mit einer Magnetfeldstärke bis zu 0.5 T notwendig, wobei das Magnetfeld muss besser als 1 Grad orientierbar sein. Der Einsatzweck erfordert eine hohe Stabilität (10 ppm/Stunde) der Feldstärke in allen drei Achsen bei gleichzeitig hervorragender mechanischer Stabilität des gesamten Systems.
Gesamtwert des Auftrags: 626 000 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2019-06-20 📅
Name: attocube systems AG
Postort: Haar
Postleitzahl: 85540
Land: Deutschland 🇩🇪
Gesamtwert des Auftrags: 626 000 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Verstöße gegen Vergabebestimmungen sind gegenüber dem Auftraggeber innerhalb von 10 Kalendertagen zu rügen, bei Verstößen, die sich aus der Bekanntmachung oder den Vergabeunterlagen ergeben, bis spätestens zum Ablauf der Angebotsfrist. Teilt der Auftraggeber mit, dass der Rüge nicht abgeholfen wird, kann innerhalb von 15 Kalendertagen ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer gestellt werden.(§ 160 GWB)
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Verstöße gegen Vergabebestimmungen sind gegenüber dem Auftraggeber innerhalb von 10 Kalendertagen zu rügen, bei Verstößen, die sich aus der Bekanntmachung oder den Vergabeunterlagen ergeben, bis spätestens zum Ablauf der Angebotsfrist. Teilt der Auftraggeber mit, dass der Rüge nicht abgeholfen wird, kann innerhalb von 15 Kalendertagen ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer gestellt werden.(§ 160 GWB)