Optisches Nahfeld-Raster-Mikroskop und AFM

Technische Universität München

Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste magnetische Mikroskopie mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglichen sowie die Messung plasmonischer Anregungen in Nanostrukturen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung. Dazu benötigen wir ein optisches Nahfeld-Raster-Lichtmikroskop für ultraschnelle spektroskopische Messungen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung über einen breiten Photonenenergiebereich, das in Abschnitt 2 dieser Ausschreibung näher beschrieben wird.
Die Anlage wird Teil eines größeren Aufbaus für orts- und zeitaufgelöste magneto-optische Kerrmikroskopiemessungen kombiniert mir Brillouin-Spektroskopie an Dünnschicht- und Nanostrukturproben sein und muss die Möglichkeit bieten seine volle Funktionalität über externe Softwarschnittstellen (Labview, Python, etc) zu steuern und automatisiert in ein größeres Messprogramm einzubinden, welches Sekundärgeräte, z. B. Kameras, Lasersysteme und optomechanische Geräte, ansteuert.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2020-01-22. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-12-23.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2019-12-23 Auftragsbekanntmachung
2020-03-02 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Auftragsbekanntmachung (2019-12-23)
Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: Technische Universität München
Postanschrift: Arcisstr. 21
Postort: München
Postleitzahl: 80333
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vergabeberatung@zv.tum.de 📧
Region: München, Kreisfreie Stadt 🏙️
URL: www.tum.de 🌏
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YK0DMTZ/documents 🌏
Teilnahme-URL: https://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YK0DMTZ 🌏

Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Optisches Nahfeld-Raster-Mikroskop und AFM 012/2019
Produkte/Dienstleistungen: Rastersondenmikroskope 📦
Kurze Beschreibung:
“Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste...”    Mehr anzeigen

1️⃣
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Rastersondenmikroskope 📦
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Weitfeldmikroskope 📦
Ort der Leistung: München, Landkreis 🏙️
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein Nahfeldmikroskop beschafft werden, dass die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung in Reflektion und...”    Mehr anzeigen
Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Der nachstehende Zeitrahmen ist in Monaten ausgedrückt.
Beschreibung
Dauer: 6

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Folgende Eigenerklärungen zum Beleg des Nichtvorliegens von Ausschlussgründen und der Erfüllung der Eignungskriterien sind mit dem Erstangebot (Formblatt...”    Mehr anzeigen
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Eigenerklärung zum Umsatz des Unternehmens in Euro netto jeweils in den letzten 3 abgeschlossenen Geschäftsjahren von 2 Millionen EUR pro Jahr, sind unter...”    Mehr anzeigen
Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Eigenerklärungen über mindestens 3 vergleichbare [Optische Nahfeld-Raster- Mikroskope und AFM] Referenzen des Bieters aus den letzten 3 abgeschlossenen...”    Mehr anzeigen

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2020-01-22 12:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2020-01-22 12:01 📅

Ergänzende Informationen
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP4YK0DMTZ
Körper überprüfen
Name: Regierung von Oberbayern – Vergabekammer Südbayern
Postanschrift: Maximilianstraße 39
Postort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 8921762411 📞
E-Mail: vergabekammer.suedbayern@reg-ob.bayern.de 📧
Fax: +49 8921762847 📠
URL: https://www.regierung.oberbayern.bayern.de/behoerde/mittelinstanz/vergabekammer/ 🌏
Quelle: OJS 2019/S 249-617569 (2019-12-23)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-03-02)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste...”    Mehr anzeigen
Währungscode: EUR 💰
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.) (niedrigstes Angebot): 511938.00
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.) (höchstes Angebot): 625702.00
Vergabekriterien
Preis

Verfahren
Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2019/S 249-617569

Auftragsvergabe

1️⃣
Vertragsnummer: 014/2019
Titel: Spitzenverstärktes Nahfeldmikroskop
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-02-10 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Neaspec GmbH
Postort: Haar
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: München, Landkreis 🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 430 200 💰
Währungscode: EUR 💰
Niedrigstes Angebot: 430200.00
Höchstes Angebot: 525800.00

Ergänzende Informationen
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP4YK0DE9F
Körper überprüfen
Name: Regierung von Oberbayern - Vergabekammer Südbayern
Quelle: OJS 2020/S 046-108422 (2020-03-02)