Röntgendiffraktometer
Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
The aim of the announced multipurpose x-ray diffractometer is the structural analysis of semiconductors and thin films. The device needs to measure high resolution rocking curves (Omega-2Theta-scans) and reciprocal space maps of various semiconductor mate-rials where the focus lies on throughput. Additionally, x-ray reflectivity measurements must be possible to determine the layer thicknesses of thin film samples. Switching between the measurements need to be quick and reproducible without time-consuming conversions and alignment routines. The sample holder should be able to fit a semiconductor wafer with a size of up to 6”, whereby a xy-sample stage should be able map/scan the full area of a 4” wafer. The diffractometer needs a 4-circle geometry, preferably a Eulerian cradle. The exact technical details have to be evaluated and discussed again with the supplier of the X-ray diffractometer.
DeadlineDie Frist für den Eingang der Angebote war 2019-11-04. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2019-10-02.
AnbieterDie folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer? Wie? Wo?| Datum | Dokument |
|---|---|
| 2019-10-02 | Auftragsbekanntmachung |
| 2020-05-20 | Bekanntmachung über vergebene Aufträge |
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung
Referenznummer: E_035_338967 cl-meer
Kurze Beschreibung:
“The aim of the announced multipurpose x-ray diffractometer is the structural analysis of semiconductors and thin films. The device needs to measure high...”
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Englisch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Freiburg 🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
Postanschrift: Hansastr. 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de 🌏
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de 📧
URL der Dokumente: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
URL der Teilnahme: http://www.deutsche-evergabe.de 🌏
Referenz
Daten
Absendedatum: 2019-10-02 📅
Einreichungsfrist: 2019-11-04 📅
Veröffentlichungsdatum: 2019-10-04 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2019/S 192-465908
ABl. S-Ausgabe: 192
Zusätzliche Informationen
“Request of documents — available at: the award documents can be retrieved Exclusively through the award portal of the German e-Vergabe at...”
Quelle: OJS 2019/S 192-465908 (2019-10-02)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“The aim of the announced multipurpose X-ray diffractometer is the structural analysis of semiconductors and thin films. The device needs to measure high...”
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Vergabekriterien
Niedrigster Preis
Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-05-20 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-05-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 100-240402
Verweist auf Bekanntmachung: 2019/S 192-465908
ABl. S-Ausgabe: 100
Zusätzliche Informationen
“— request of documents — available at: The award documents can be retrieved exclusively through the award portal of the German e-Vergabe at...”
Quelle: OJS 2020/S 100-240402 (2020-05-20)