Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Fraunhofer ENAS – E_134_254170 – Analytikcluster
E_134_254170 ChrPat-KauAnj
Produkte/Dienstleistungen: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke📦
Kurze Beschreibung:
“Komplexes optisches Analytikcluster zur Charakterisierung von optoelektronischen Nanosystemen.”
Geschätzter Wert ohne MwSt: EUR 1 💰
Informationen über Lose
Angebote können für alle Lose eingereicht werden
1️⃣ Umfang der Beschaffung
Titel: Digitaler Oberflächenmessplatz
Titel
Los-Identifikationsnummer: 1
Beschreibung
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke📦
Ort der Leistung: Chemnitz🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 09126 Chemnitz
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein Messplatz zur digitalen Oberflächenbestimmung von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem...”
Beschreibung der Beschaffung
Es soll ein Messplatz zur digitalen Oberflächenbestimmung von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem konfokalen Laserscanningmikroskop für den Mikro- und Nanobereich, einem 3D Profilometer für den Makrobereich und einem Digitalmikroskop für den Mikro- und Makrobereich bestehen. Die Messgeräte sollen über einen gemeinsamen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass ein nahtloser Übergang zwischen digitaler Bilderzeugung, sowie Messungen im Mikro- und Makrobereich möglich wird.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 1 💰
Dauer
Datum des Beginns: 2020-09-01 📅
Datum des Endes: 2020-09-30 📅
Informationen über Optionen
Optionen ✅
Beschreibung der Optionen:
“— Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück,
— Lieferung frei Verwendungsstelle,
— Einweisung/Schulung.”
2️⃣ Umfang der Beschaffung
Titel: Spektraler Rastersondenmikroskopie-Messplatz
Titel
Los-Identifikationsnummer: 2
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein Messplatz zur spektralen Rastersondenmikroskopie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem...”
Beschreibung der Beschaffung
Es soll ein Messplatz zur spektralen Rastersondenmikroskopie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem optischen Rasternahfeldmikroskop (SNOM), einem Rasterkraftmikroskop (AFM) und einem konfokalen Raman-Mikroskop für Transmissions- und Reflexionsmessungen bestehen und als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
Mehr anzeigen Informationen über Optionen
Beschreibung der Optionen:
“— Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro – Stück,
— Lieferung frei Verwendungsstelle,
— Einweisung und...”
Beschreibung der Optionen
— Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro – Stück,
— Lieferung frei Verwendungsstelle,
— Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,
— Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes Personal.
3️⃣ Umfang der Beschaffung
Titel: Ellipsometrie-Messplatz
Titel
Los-Identifikationsnummer: 3
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein Messplatz zur spektroskopischen Ellipsometrie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss als...”
Beschreibung der Beschaffung
Es soll ein Messplatz zur spektroskopischen Ellipsometrie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein und berührungslose, zerstörungsfreie optische Messungen an Substraten, Einzelschichten und Schichtstapel ermöglichen, um Schichtdicken und optische Parameter der Schichten bestimmen zu können. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
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Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 1 💰
4️⃣ Umfang der Beschaffung
Titel: MOEMS-Messplatz
Titel
Los-Identifikationsnummer: 4
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein MOEMS-Messplatz für optoelektronische Mikro- und Nanosysteme aufgebaut werden. Der Messplatz muss als Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein und...”
Beschreibung der Beschaffung
Es soll ein MOEMS-Messplatz für optoelektronische Mikro- und Nanosysteme aufgebaut werden. Der Messplatz muss als Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein und optische Messungen ermöglichen, um spektrale optische Kennlinien der Proben in Transmission und Reflexion bestimmen zu können. Dazu soll ein FTIR-Spektrometer angeschafft werden, welches die Möglichkeit zum Aufbau eines externen Strahlengangs bietet. Der externe Strahlengang soll optional mit einem PA200BR Waferprober der Firma Cascade Microtech verbunden werden, sodass MOEMS Wafer mit dem FTIR-Spektrometer unter Nutzung des Waferprobers elektrisch und optisch, spektral charakterisiert werden können. Der Detektor des FTIR-Spektrometers muss dazu optional in den Waferprober und den externen Strahlengang integriert werden. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden.
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Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 1 💰
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“(1) Firmenprofil;
(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre;
(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach § 123 und § 124...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
(1) Firmenprofil;
(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre;
(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach § 123 und § 124 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB);
(4) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung).
„Achtung“:
Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
Mehr anzeigen Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“(1) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung)
„Achtung“:
Sollten Sie aus...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
(1) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung)
„Achtung“:
Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
Mehr anzeigen Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
“Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien...”
Bedingungen für die Vertragserfüllung
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2020-03-11
09:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Englisch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2020-05-11 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2020-03-11
10:00 📅
“Anforderung Unterlagen – Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne...”
Anforderung Unterlagen – Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist. Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) – Fra-gen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden.
Mehr anzeigen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen,...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).
Mehr anzeigen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe”
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de📧
URL: http://www.fraunhofer.de🌏
Quelle: OJS 2020/S 030-069334 (2020-02-10)
Ergänzende Angaben (2020-03-18) Öffentlicher Auftraggeber Name und Adressen
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe”
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Fraunhofer ENAS - E_134_254170 – Analytikcluster
E_134_254170 ChrPat-KauAnj
Ergänzende Informationen Referenz der ursprünglichen Mitteilung
Nummer der Bekanntmachung im Amtsblatt S: 2020/S 030-069334
Änderungen Zu berichtigender Text in der ursprünglichen Bekanntmachung
Nummer des Abschnitts: IV.2.2)
Ort des zu ändernden Textes: Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
Alter Wert
Datum: 2020-03-11 📅
Zeit: 09:00
Neuer Wert
Datum: 2020-03-27 📅
Zeit: 09:00
Quelle: OJS 2020/S 058-138664 (2020-03-18)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-10-22) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Fraunhofer ENAS — E_134_254170 — Analytikcluster
E_134_254170 ChrPat-KauAnj
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 0.01 💰
Informationen über Lose
Dieser Vertrag ist in Lose unterteilt ✅ Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Technischer Wert
Qualitätskriterium (Gewichtung): 65
Preis (Gewichtung): 35
Informationen über Optionen
Beschreibung der Optionen:
“— Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück,
— Lieferung frei Verwendungsstelle,
— Einweisung und...”
Beschreibung der Optionen
— Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück,
— Lieferung frei Verwendungsstelle,
— Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,
— Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes Personal.
Mehr anzeigen Beschreibung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Chemnitz
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Chemitz
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2020/S 030-069334
Auftragsvergabe
1️⃣
Los-Identifikationsnummer: 1
Titel: Digitaler Oberflächenmessplatz
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-06-29 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 1
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Keyence Deutschland GmbH
Postort: Neu-Isenburg
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Offenbach, Landkreis🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 1 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰
2️⃣
Vertragsnummer: 2
Los-Identifikationsnummer: 2
Titel: Spektraler Rastersondenmikroskopie-Messplatz
Informationen über nicht gewährte Zuschüsse
Es sind keine Angebote oder Teilnahmeanträge eingegangen oder alle wurden abgelehnt
3️⃣
Vertragsnummer: 3
Los-Identifikationsnummer: 3
Titel: Ellipsometrie-Messplatz
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Semilab ZRT
Postort: Budapest
Land: Ungarn 🇭🇺
Region: Magyarország 🏙️ Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 1 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰
4️⃣
Vertragsnummer: 4
Los-Identifikationsnummer: 4
Titel: MOEMS-Messplatz
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Bruker Optik GmbH
Postort: Ettlingen
Region: Karlsruhe, Landkreis🏙️ Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 1 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰
“Anforderung Unterlagen — Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne...”
Anforderung Unterlagen — Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist. Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses.
— Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB).
— Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden.
Mehr anzeigen Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen,...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).
Mehr anzeigen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name:
“Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe”
Quelle: OJS 2020/S 209-509978 (2020-10-22)