Röntgenkleinwinkelstreuanlage

Kurze Beschreibung

Das zu beschaffende Gerät dient in erster Linie der Strukturaufklärung von Multiskalenmaterialien durch Beugungsmessungen. Diese Materialien sind zentraler Bestandteil des Forschungsprogramms im Topic „Hybrid and Functionalized Structures" der Programmorientierten Förderung der Helmholtz-Gemeinschaft sowie im Sonderforschungsbereich (SFB) 986 „Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme" und der darauf aufbauenden Forschung im Hamburger „Center for Integrated Multiscale Materials Systems" CIMMS. Als die betreibende Organisationseinheit ist die Arbeitsgruppe Hybride Materialsysteme (WMH) des Instituts für Werkstoffforschung, Werkstoffmechanik am Helmholtz Zentrum Geesthacht (HZG) in diese Strukturen eingebettet. Der SFB 986 und die aus ihm hervorgegangene Forschung in CIMMS bündeln die Materialforschung auf dem Gebiet der Multiskalenmaterialien an den Standorten Technische Universität Hamburg, HZG, Deutsches Elektronensynchrotron DESY, und Universität Hamburg. Die Labormessungen mit Kleinwinkelstreuung bei WMH ergänzen Untersuchungen an den leistungsfähigeren Geräten des DESY. Dies schließt auch Untersuchungen ein, die regelmäßig im Rahmen des von HZG betriebenen German Engineering Materials Science Centre (GEMS) durchgeführt werden. Das zu beschaffende Gerät dient gleich ermaßen eigenständigen Messungen wie auch Messungen mit dem Ziel, Prozeduren, Probenqualitäten, und Messprotokolle zu etablieren, die im Anschluss bei DESY weiterverfolgt werden.
Eine prototypische Anwendung ist die Untersuchungen von hierarchisch aufgebautem nanoporösem Gold hinsichtlich des Gefüges der Netzwerkstruktur auf allen Skalen, der Kristallographie, der Kristallgitterdefek te und der Mikroverzerrung. Siehe hierzu als Referenz die Publikationen Physical Review Materials 1 (2017) 076003, ACS Nano 7 (2013) 5948 sowie Advanced Functional Materials 25 (2015) 2530. Der SFB 986 untersucht weiterhin Opale, inverse Opale sowie photonische Gläser. Als Referenz hierfür siehe z. B. Journal of the European Ceramic Society 39 (2019) 3353.
Die zu untersuchenden Multiskalenmaterialien enthalten typisch relevante Strukturmerkmale auf der Skala von der Kristallgitter- und Defektstruktur über feinskalige Ausscheidungen oder molekulare Oberflächenlagen,
Primäre Porenstrukturen im Bereich weniger Nanometer und Struktur auf einer oberen Skalenebene im Bereich von (einigen) 100 nm, in Einzelfällen bis zu Müm. Diese Strukturmerkmale sind im gesamten Materialvolumen verteilt. Grundaufgabe des zu beschaffenden Gerätes ist die Strukturbestimmung im Volumen und in einem Skalenbereich von der atomaren Skala bis hinauf zu einigen 100 nm. Dies erfordert, dass das Grundgerät für jeweils ein und dieselbe Probe den gesamten Skalenbereich von der atomaren Skala bis hinauf zu charakteristischen Längenskalen von einigen 100 nm abdecken kann. Die Untersuchungen schließen Prozesse ein, zum Beispiel bei der Gefügeentwicklungen während der Herstellung von Nanomaterialien durch Legierungskorrosion. Dabei treten Änderungen der Struktur mit der Zeit simultan auf allen Längenskalen auf. Das Gerät muss daher geeignet sein für regelmäßig simultane Streumessungen im Kleinwinkel- wie auch im Weitwinkelbereich (SAXS/WAXS). Im reziproken Raum entsprechen die zu untersuchenden Skalen insgesamt einem Intervall von Streuvektoren in der Größenordnung von einigen 10-2 nm-1 bis hinauf zu etwa 40 nm-1.
Ein Gerät für simultan einerseits hochauflösende Kleinwinkelstreuung und andererseits Weitwinkelstreuung mit einem entsprechend großen Messbereich im reziproken Raum ist daher gefordert.
Zu untersuchen sind unter anderem strukturelle Anisotropien auf jeder Längenskala, z. B. in einachsig plastisch verformten porösen Metallen. Die Information im reziproken Raum wird daher richtungsaufgelöst benötigt; in 2 Dimensionen muss der gesamte Azimutwinkelbereich von 360 Grad erfasst werden.
Aufgrund der begrenzen Zeichenanzahl entnehmen Sie die vollständige Leistungsbeschreibung bitte den Vergabeunterlagen.

Beschreibung der Beschaffung

Grundgerät Röntgenklein- und Weitwinkelstreuung (SAXS/WAXS)
— Funktionsfähiges Komplettgerät für simultan sowohl hochauflösende Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS) und wie auch Röntgenweitwinkelstreuung (WAXS), mit allen für den Betrieb erforderlichen Hardware- wie auch Softwarekomponenten;
— Funktionsfähige Einbindung der Zusatzkomponenten (WAXSMD, USAXS, GISAXS, siehe unten) sowohl Hardware- wie auch softwareseitig Auslegung für die Messung mit Mo- wie auch Cu-Strahlung mit vollautomatisiertem Wechsel zwischen den Wellenlängen; der Wechsel muss ohne weiteren Nutzereingriff und insbesondere ohne manuelle Justage erfolgen;
— Mikrofokusquellen für beide Strahlungsarten, jeweils inklusive Kollimationsoptik;
— Geschlossenes Kühlsystem für die Röntgenquellen, mit Wärmetauscher oder Refrigeratorthermostat Kollimation und Strahlengang;
— Kollimation des Primärstrahls über streufreie Blenden, jeweils alle 4 Schneiden unabhängig motorisiert verfahrbar;
— Kollimationsstrecke für den Primärstrahl abgestimmt auf den größten Abstand Probe zu Detektor (APD);
— Abstand ProbeDetektor in der Konfiguration mit höchster Auflösung mindestens 180 cm;
— Strahlengang vollständig im Vakuum von 1 mbar oder besser;
— Vakuumpumpe für den Strahlengang;
— Messvorrichtung für das Vakuumniveau Detektor Kleinwinkelstreuung;
— 2D Detektor für hochauflösende Kleinwinkelstreuung mit den folgenden Eigenschaften:
a) Bauart „single photon counting hybrid pixel detector",
b) geeignet für beide Strahlungsarten, Mo und Cu,
c) geeignet für die Messung der Intensität im direkten Primärstrahl, ohne Strahlfänger, regelmäßig während der gesamten Dauer jeder Messung,
d) hohe Zähleffizienz, insbesondere Zähleffizienz mindestens 75 % für Mostrahlung,
e) vollautomatisierter Wechsel der Detektorposition,
f) bei größtem APD Winkelauflösung eines einzelnen Pixels 0.006Grad oder besser,
g) mindestens 300 000 Pixel,
h) ausgerüstet mit motorisiertem Schutzfenster, um den Detektor zu schützen, während er nicht benutzt oder wenn er Atmosphäre ausgesetzt wird Bestimmung der absoluten Intensität bei Kleinwinkelstreumessungen.
— Messdaten müssen mit automatischer Quantifizierung sowohl des Streuvektors als auch der absoluten Intensität mit hoher Genauigkeit reduziert werden. Hierzu darf im Routinebetrieb keine Eichprobe erforderlich sein. Die Quantifizierung der absoluten Intensität muss durch kontinuierliche Messung des transemittierten Primärstrahls während der Streuungsmessung mit demselben Detektor erreicht werden; hierzu darf kein Filter oder Abschwächer erforderlich sein, damit die Genauigkeit der absoluten Intensität nicht durch Strahlverhärtung (Verschiebung des Wellenlängenspektrums) beeinträchtigt wird. Diese Funktionalität muss routinemäßig im täglichen Betrieb verfügbar sein.
Weitwinkelstreuung
— separates 2-D Detektormodul, Bauart „hybrid pixel detector", zur Messung der Weitwinkelstreuung simultan während laufender Kleinwinkelstreumessungen;
— Streusignal muss messbar sein bis zu einem maximalen Streuwinkel von mindestens 2 Theta = 55Grad;
— zweite Detektorposition für Messung mit höherer Auflösung, zum Beispiel für maximalen Streuwinkel von 2 Theta = 40Grad.
Messbereich im reziproken Raum (q-Bereich)
— System muss SAXS/WAXS-Messungen mit einstellbarem APD ermöglichen, um mit Cu-Strahlung einen Bereich des Streuvektors, q, von Beträgen q = 0.015 nm-1 bis q = 38 nm-1 oder besser lückenlos abzudecken. Automatisierte Einstellung aller erforderlichen Konfigurationen;
— System muss in der Lage sein, die zur lückenlosen Abdeckung des gesamten, gerade spezifizierten q- Bereichs erforderliche Variation des APD unter Beibehaltung einer festen Probenposition zu erreichen, ohne Kompromisse bei der Datenqualität. Mit anderen Worten, es darf ausschließlich die Detektorposition entlang der Strahlausbreitungsachse geändert werden. "Keine Kompromisse bei der Datenqualität" bedeutet hier insbesondere, dass die spezifizierten Werte des q-Bereichs und des Azimuthbereichs sowie der Pixel bezogenen Winkelauflösung uneingeschränkt beibehalten werden;
— System muss die automatische und kontinuierliche Änderung der Konfiguration über den gesamten für Transmissionsmessungen spezifizierten q-Bereich des Instruments ermöglichen. Dies muss durch eine computergesteuerte kontinuierliche Änderung des Abstands zwischen Probe und Detektor über den gesamten Bereich einschließlich der automatischen Justage des Systems (keine manuelle Handhabung erforderlich und alle Einstellungen softwaregesteuert).
Probenkammer und Probenpositionierung.
— Probenkammer mit den folgenden Eigenschaften:
a) innere Abmessungen mindestens 350 × 450 × 450 mm,
b) Freiraum von mindestens (in Bezug auf die Probenposition bei regulären Messungen mit SAXS und WAXS): mind. +/- 160 mm in vertikaler Richtung, mind. +/- 200 mm in horizontaler Richtung und mind. +/- 100 mm in der Strahlausbreitungsrichtung; dabei muss die Probenbühne funktionsfähig und an ihrer Standardposition eingebaut bleiben,
c) Streuungsmessungen alternativ mit Probe im Vakuum oder an Luft möglich. Insbesondere muss auch für Messungen mit der Probe in Luft die softwaregesteuerte, automatische Änderung der Konfiguration (ohne manuellen Nutzereingriff) möglich sein, und zwar über mehr als 3 Größenordnungen in q ab einem minimalen Steuervektorbetrag von q =0,015 nm-1.
d) Zugang in die Kammer durch 2 gegenüberliegende große Türen,
e) mindestens 2 freie Vakuumflansche für nutzerkonfigurierbare Durchführungen.
21. Probenbühne zur Probenpositionierung in der Probenkammer mit den folgenden Eigenschaften:
a) motorisiert in jeder der beiden Raumrichtungen senkrecht zum Strahl verfahrbar,
b) Verfahrweg in jeder Richtung mindestens 90 mm, Positioniergenauigkeit 1 Müm oder besser,
c) geeignet für den Aufbau von nutzereigenen Umgebungszellen auf der Probenbühne, bis zu einem Gewicht von 5 kg,
— parallaxenfreies Videosystem für die Probenjustage
Aufgrund der begrenzen Zeichenanzahl entnehmen Sie bitte die vollständige Leistungsbeschreibung den Vergabeunterlagen.

Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien

1. Erklärung zum Umsatz des Unternehmens in den Jahren 2017 bis 2019:
Gesamtumsatz des Unternehmens sowie spezifischer Umsatz bezüglich der besonderen Leistungsart, die Gegenstand dieser Vergabe ist (Herstellung von Röntgenwinkelstreuanlagen).
2. Eigenerklärung zum Bestehen einer Haftpflichtversicherung mit Angabe der Deckungssumme je Versicherungsfall für Personen-,Sach- und Vermögensschäden (zum Zeitpunkt des Schlusstermins für die Einreichung der Teilnahmeanträge nicht älter als 6 Monate – ein Nachweis kann auf gesondertes Verlangen angefordert werden).

Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien

Der Hersteller muss eine überprüfbare Referenz für mindestens eine vom HZG als Grundgerät definierte Installation (siehe hierzu Punkt 2A) der Leistungsbeschreibung) bei Dritten nachweisen.
Der Bieter muss im Rahmen der Referenz(en) nachweisen, dass für jede einzelne der Erweiterungen (nämlich GISAXS, USAXS und WAXSMD) mindestens eine Installation eines Grundgeräts (siehe Punkt 2A) der Leistungsbeschreibung) mit der jeweiligen Erweiterung bei Dritten installiert worden ist (siehe hierzu Punkte 2B) bis 2D) der Leistungsbeschreibung).
Der Referenznachweis ist unter Angabe des Auftraggebers, des Auftragsgegenstandes, der Leistungszeit, der Rechnungssumme in Euro sowie eines Ansprechpartners, zu führen.
2. Angabe der durchschnittlichen Anzahl des Beschäftigten Personals in den Jahren 2018 und 2019,
Die Vergabestelle wird bei allen Bietern, die ein Angebot abgeben haben, einen Nachweis der technischen Leistungsfähigkeit ihres Geräts anhand von Demonstrationsmessungen verlangen (siehe hierzu auch Anforderung an die Testdemonstration sowie die Leistungsbeschreibung). Für die Vereinbarung eines diesbezüglichen Termins wird die Vergabestelle nach der Angebotsöffnung über den Vergabemarktplatz Kontakt mit Ihnen aufnehmen. Die Kontaktaufnahme erfolgt innerhalb eines Tages nach der Angebotsöffnung. Der Leistungsnachweis ist spätestens innerhalb von 3 Wochen nach der Angebotsöffnung zu erbringen; die Frist wird nur verlängert, wenn Gründe vorliegen die der Bieter nicht zu vertreten hat. Ein Nichterbringen der technischen Leistungsfähigkeit führt automatisch zum Ausschluss aus dem Vergabeverfahren.
Der Leistungsnachweis über Demonstrationsmessungen in Anwesenheit des HZG kann alternativ beim Hersteller oder auch an einem Referenzgerät bei einem Drittunternehmen erfolgen. Wenn höhere Gewalt bei einem oder mehreren Bieter(n) eine persönliche Anreise des HZG verhindert, dann kann der Leistungsnachweis bei diesem Bieter/diesen Bietern in Form einer Demonstrationsmessung per Videoübertragung vereinbart werden. Die Videoübertragung muss zusammenhängend, in Echtzeit und mit Interaktion zwischen Bieter und HZG erfolgen. Die Einzelheiten der Umsetzung zwecks Anforderung an die Demonstration (siehe gesondertes Dokument) werden für den oben erwähnten Fall zwischen HZG und Bieter im Einzelfall unter Einhaltung der Grundsätze von Transparenz und Gleichbehandlung abgestimmt.
Proben für die Demonstrationsmessungen werden vom Bieter auf eigene Kosten bereitgestellt.

1. Die Vergabeunterlagen können unter der in Ziffer I.3) genannten Internetadresse abgerufen werden. Die Verwendung der Angebotsunterlagen ist verbindlich. Sofern im Laufe des Vergabeverfahrens weitere Informationen oder Präzisierungen seitens HZG erforderlich werden sollten, werden diese Zusatzinformationen ebenfalls unter der dort genannten Internetadresse veröffentlicht. Die Bieter müssen daher regelmäßig prüfen, ob unter der dort genannten Internetadresse weitere Informationen veröffentlicht wurden. Eine Registrierung bei der Vergabeplattform erleichtert den Zugang und die Information zu den Bieterinformationen,
2. Fragen zu den Anforderungen dieser Bekanntmachung und den Vergabeunterlagen sollen umgehend, jedoch spätestens bis zum 30.4.2020 über die Vergabeplattform gestellt werden. HZG behält sich vor, später eingehende Fragen nicht zu beantworten,
3. Angebote sind elektronisch an die in Ziffer I.3) benannte Stelle über die Vergabeplattform zu übermitteln. Bis zum Ablauf der Angebotsfrist sind die Angebote verschlüsselt, so dass HZG keinen Zugriff auf sie hat. Dem Bieter steht es jedoch frei, sein Angebot bis zum Ablauf der Frist zu bearbeiten und neu hochzuladen;
4. HZG behält sich vor, das Verfahren aus sachlichen Gründen aufzuheben. Ersatzansprüche der Bieter sind – soweit rechtlich zulässig – ausgeschlossen. Mit dem Herunterladen der Vergabeunterlagen stimmt der Bieter dem zu,
5. Durch die Abgabe des Angebots verpflichtet sich der Bieter, alle ihm ggf. übersandten Unterlagen vertraulich zu behandeln und den Geheimwettbewerb auch ansonsten zu wahren; dies gilt auch im Hinblick auf das jeweilige Angebot. HZG seinerseits wird Unterlagen der Bieter nur für die Zwecke des Verfahrens verwenden;
6. Bietergemeinschaften haben mit ihrem Teilnahmeantrag eine von allen Mitgliedern unterschriebene rechtsverbindliche Erklärung abzugeben, die in den Bewerbungsunterlagen enthalten ist,
7. Ist das Hochladen von Dokumenten über das Bietertool nicht möglich, liegt dies meist an der unternehmenseigenen Firewall. Wir empfehlen, rechtzeitig probeweise Dokumente hochzuladen; diese können problemlos wieder zurückgezogen werden. Bei Problemen stimmen Sie sich bitte über die Rechteadministration mit Ihrer IT-Abteilung ab. Erfahrungsgemäß ist das Hochladen von einem Rechner außerhalb des Firmennetzwerks problemlos möglich,
8. Das Angebot kann in deutscher oder englischer Sprache abgegeben werden. Für die Vertragsdokumente ist die deutsche Sprache maßgeblich. Es gilt deutsches Recht.
Bekanntmachungs-ID: CXU1YYDYYR9

Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren

— § 134 Abs. 2 GWB – Informations- und Wartepflicht: Ein Vertrag darf erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information nach § 134 Abs. 1 GWB geschlossen werden. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an,
— Das Vergabeverfahren unterliegt den Vorschriften über das Nachprüfungsverfahren vor der Vergabekammer (§ 155 ff. GWB). Gemäß § 160 Abs. 3 GWB ist der Antrag unzulässig, soweit:
1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Abs. 2 GWB bleibt unberührt,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der vorstehende Satz gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Abs. 1 Nr. 2 GWB. § 134 Abs. 1 Satz 2 GWB bleibt unberührt.