Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2020-08-14.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2020-07-14.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Röntgenstreugerät für Dünnfilmanalysen
2020ZV000010
Produkte/Dienstleistungen: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung📦
Kurze Beschreibung:
“Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss...”
Kurze Beschreibung
Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
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Geschätzter Wert ohne MwSt: EUR 402 500 💰
1️⃣
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung📦
Ort der Leistung: Bayreuth, Kreisfreie Stadt🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bayreuth.
Beschreibung der Beschaffung:
“Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss...”
Beschreibung der Beschaffung
Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 402 500 💰
Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Der nachstehende Zeitrahmen ist in Monaten ausgedrückt.
Beschreibung
Dauer: 6
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung: VOL/B in der jeweils aktuell gültigen Fassung.
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2020-08-14
10:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Englisch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2020-09-30 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2020-08-14
10:00 📅
Ergänzende Informationen Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Körper überprüfen
Name: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Postanschrift: Promenade 27
Postort: Ansbach
Postleitzahl: 91522
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 981531277📞
E-Mail: vergabekammer.nordbayern@reg-mfr.bayern.de📧
Fax: +49 981531837 📠 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Form und Frist zur...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.
§ 160 GWB Einleitung, Antrag:
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein;
(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht;
(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit:
1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__134.html http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__135.html
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Quelle: OJS 2020/S 136-334375 (2020-07-14)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-09-14) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss...”
Kurze Beschreibung
Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS=grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller 3 Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
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Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 402 440 💰
Beschreibung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bayreuth
Beschreibung der Beschaffung:
“Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss...”
Beschreibung der Beschaffung
Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS=grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller 3 Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z.B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2020/S 136-334375
Auftragsvergabe
1️⃣
Vertragsnummer: 17532/20MS
Titel: Röntgenstreugerät für Dünnfilmanalysen
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-08-25 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 1
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Xenocs
Postanschrift: 1-3 allée du Nanomètre
Postort: Grenoble
Postleitzahl: 38000
Land: Frankreich 🇫🇷
Region: Isère 🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU ✅ Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 402 500 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 402 440 💰
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Regierung von Mittelfranken — Vergabekammer Nordbayern
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.
§ 160 GWB Einleitung, Antrag:
(1) Die Vergabekammer leitet ein...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.
§ 160 GWB Einleitung, Antrag:
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein,
(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht,
(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit:
1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) Mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__134.html http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__135.html
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Quelle: OJS 2020/S 182-437816 (2020-09-14)