Röntgenstreugerät für Dünnfilmanalysen

Universität Bayreuth

Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2020-08-14. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2020-07-14.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Xenocs

Wer?

• Universität Bayreuth

Wie?

• Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen › Nichtmedizinische Röntgenausrüstung

Wo?

• Oberfranken › Bayreuth, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2020-07-14	Auftragsbekanntmachung
2020-09-14	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2020-07-14)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung
Referenznummer: 2020ZV000010
Kurze Beschreibung:

Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell. The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Kurze Beschreibung

Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.

The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung 📦
Zusätzlicher CPV-Code: Nichtmedizinische Röntgenausrüstung 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Bayreuth, Kreisfreie Stadt 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: Universität Bayreuth
Postanschrift: Universitätsstr. 30
Postleitzahl: 95447
Postort: Bayreuth
Kontakt
Internetadresse: https://www.auftraege.bayern.de 🌏
E-Mail: vergabestelle@uni-bayreuth.de 📧
Telefon: +49 921550 📞
URL der Dokumente: https://www.eprocurement.bayern.de/evergabe.bieter//DownloadTenderFiles.ashx?subProjectId=fK2bWWKKr40%253d 🌏
URL der Teilnahme: https://www.auftraege.bayern.de 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-07-14 📅
Einreichungsfrist: 2020-08-14 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-07-16 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 136-334375
ABl. S-Ausgabe: 136

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Geschätzter Gesamtwert: 402 500 EUR 💰
Geschätzter Wert ohne MwSt: 402 500 EUR 💰
Dauer: 6 Monate
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bayreuth.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung: VOL/B in der jeweils aktuell gültigen Fassung.

Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 10:00
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Englisch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2020-09-30 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2020-08-14 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 10:00

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: De Zanet, Stefan
Dokumente URL: https://www.eprocurement.bayern.de/evergabe.bieter//DownloadTenderFiles.ashx?subProjectId=fK2bWWKKr40%253d 🌏

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Postanschrift: Promenade 27
Postort: Ansbach
Postleitzahl: 91522
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 981531277 📞
E-Mail: vergabekammer.nordbayern@reg-mfr.bayern.de 📧
Fax: +49 981531837 📠
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von…

… Rechtsbehelfen:

… Rechtsbehelfen: Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.

§ 160 GWB Einleitung, Antrag:

(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein;

(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht;

(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit:

1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,

2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.

Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__134.html

http://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__135.html

Quelle: OJS 2020/S 136-334375 (2020-07-14)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-09-14)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS=grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller 3 Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell. The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Kurze Beschreibung

Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS=grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller 3 Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.

The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.

Gesamtwert des Auftrags: 402 440 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Vergabekriterien
Niedrigster Preis

Referenz
Daten
Absendedatum: 2020-09-14 📅
Veröffentlichungsdatum: 2020-09-18 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2020/S 182-437816
Verweist auf Bekanntmachung: 2020/S 136-334375
ABl. S-Ausgabe: 182

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

… (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.

… (z.B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.

Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Bayreuth

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-08-25 📅
Name: Xenocs
Postanschrift: 1-3 allée du Nanomètre
Postort: Grenoble
Postleitzahl: 38000
Land: Frankreich 🇫🇷
Isère 🏙️
Gesamtwert des Auftrags: 402 440 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Regierung von Mittelfranken — Vergabekammer Nordbayern
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.

(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein,

4) Mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.

Quelle: OJS 2020/S 182-437816 (2020-09-14)

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