Gesucht wird ein spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung (u. a. dielektrische Funktion und deren Anisotropie, Band-Band-Übergänge, Exzitonen, Oberflächeneigenschaften) von Halbleitern mit einer weiten Bandlücke (z. B. ZnO and darauf basierte Mischverbindungen) und dielektrischen Materialien (ZrO2, Al2O3, SiN, SiOx) sowie darauf basierende Dünnschichten und Strukturen im nahen infraroten Spektralbereich (1 000 nm) bis hin zum UV Spektralbereich (250 nm). Um stark räumliche variierende optischen Eigenschaften der Proben, z. B. durch Strukturierungen im ?m-Bereich oder räumliche Gradienten in der Zusammensetzung der verwendeten Materielaien zu bestimmen, ist spektroskopische, abbildende Ellipsometrie erforderlich mit einer lateralen Auflösung von bis zu 1μm. Das Ellipsometer soll zudem eine Kartierung der optischen Eigenschaften, Materialkonstanten und Probenaufbau erlauben. Des Weiteren kommen zum Teil optisch transparente Substrate zum Einsatz, so dass für eine geeignete Modellierung der Spektren die an der Rückseite des Substrates reflektierten Strahlen nicht detektiert werden sollten.
Zum Leistungsumfang gehören Lieferung frei Verwendungsstelle, Montage, Installation, betriebsbereite Aufstellung, Abnahme sowie Einweisung und Schulung.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2020-08-07.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2020-06-25.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer
10007-2020
Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)📦
Kurze Beschreibung:
“Gesucht wird ein spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung (u. a. dielektrische Funktion und deren Anisotropie,...”
Kurze Beschreibung
Gesucht wird ein spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung (u. a. dielektrische Funktion und deren Anisotropie, Band-Band-Übergänge, Exzitonen, Oberflächeneigenschaften) von Halbleitern mit einer weiten Bandlücke (z. B. ZnO and darauf basierte Mischverbindungen) und dielektrischen Materialien (ZrO2, Al2O3, SiN, SiOx) sowie darauf basierende Dünnschichten und Strukturen im nahen infraroten Spektralbereich (1 000 nm) bis hin zum UV Spektralbereich (250 nm). Um stark räumliche variierende optischen Eigenschaften der Proben, z. B. durch Strukturierungen im ?m-Bereich oder räumliche Gradienten in der Zusammensetzung der verwendeten Materielaien zu bestimmen, ist spektroskopische, abbildende Ellipsometrie erforderlich mit einer lateralen Auflösung von bis zu 1μm. Das Ellipsometer soll zudem eine Kartierung der optischen Eigenschaften, Materialkonstanten und Probenaufbau erlauben. Des Weiteren kommen zum Teil optisch transparente Substrate zum Einsatz, so dass für eine geeignete Modellierung der Spektren die an der Rückseite des Substrates reflektierten Strahlen nicht detektiert werden sollten.
Zum Leistungsumfang gehören Lieferung frei Verwendungsstelle, Montage, Installation, betriebsbereite Aufstellung, Abnahme sowie Einweisung und Schulung.
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Geschätzter Wert ohne MwSt: EUR 315 000 💰
1️⃣
Ort der Leistung: Leipzig, Kreisfreie Stadt🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Universität Leipzig – Technikum/Analytikum
Linnéstraße 3
04103 Leipzig
Beschreibung der Beschaffung:
“Gesucht wird ein spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung (u. a. dielektrische Funktion und deren Anisotropie,...”
Beschreibung der Beschaffung
Gesucht wird ein spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung (u. a. dielektrische Funktion und deren Anisotropie, Band-Band-Übergänge, Exzitonen, Oberflächeneigenschaften) von Halbleitern mit einer weiten Bandlücke (z. B. ZnO and darauf basierte Mischverbindungen) und dielektrischen Materialien (ZrO2, Al2O3, SiN, SiOx) sowie darauf basierende Dünnschichten und Strukturen im nahen infraroten Spektralbereich (1 000 nm) bis hin zum UV Spektralbereich (250 nm). Um stark räumliche variierende optischen Eigenschaften der Proben, z. B. durch Strukturierungen im ?m-Bereich oder räumliche Gradienten in der Zusammensetzung der verwendeten Materielaien zu bestimmen, ist spektroskopische, abbildende Ellipsometrie erforderlich mit einer lateralen Auflösung von bis zu 1μm. Das Ellipsometer soll zudem eine Kartierung der optischen Eigenschaften, Materialkonstanten und Probenaufbau erlauben. Des Weiteren kommen zum Teil optisch transparente Substrate zum Einsatz, so dass für eine geeignete Modellierung der Spektren die an der Rückseite des Substrates reflektierten Strahlen nicht detektiert werden sollten.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 315 000 💰
Dauer
Datum des Endes: 2020-12-31 📅
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“1 a) Eigenerklärung über den Eintrag in ein Berufs- oder Handelsregister nach Maßgabe der Rechtsvorschriften des Herkunftslandes (gern über beigefügten...”
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen
1 a) Eigenerklärung über den Eintrag in ein Berufs- oder Handelsregister nach Maßgabe der Rechtsvorschriften des Herkunftslandes (gern über beigefügten Vordruck des Auftraggebers).
1 b) Eigenerklärung des Bieters, dass er seiner gesetzlichen Verpflichtung zur Zahlung von Steuern und Abgaben sowie der Zahlung der Beiträge zur Sozialversicherung nachkommt (gern über beigefügten Vordruck des Auftraggebers).
2 a) Eigenerklärung gemäß § 123 GWB, dass kein Ausschlussgrund vorliegt (bitte über beigefügten Vordruck des Auftraggebers).
2 b) Eigenerklärung gemäß § 124 GWB, dass kein Ausschlussgrund vorliegt (bitte über beigefügten Vordruck des Auftraggebers).
Mehr anzeigen Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“1 c) Angabe der Gesamtumsatzzahlen des Unternehmens der letzten 3 Geschäftsjahre, jahresweise aufgestellt. (bitte über beigefügten Vordruck des Auftraggebers)” Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“1 d) Referenzliste mit mindestens 3 Eintragungen über erbrachte vergleichbare Leistungen (spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
1 d) Referenzliste mit mindestens 3 Eintragungen über erbrachte vergleichbare Leistungen (spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer zur optischen Charakterisierung mit vergleichbarer Konfiguration / Gesamtauftragswert) innerhalb der letzten 3 Jahre, mit folgenden Angaben:
— Auftraggeber;
— Bezeichnung/Beschreibung des Leistungsgegenstandes;
— ca. Wert des Auftrages;
— Leistungszeitraum/ Leistungsdatum.
(Angabe Referenzen gern über beigefügten Vordruck des Auftraggebers).
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2020-08-07
23:59 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2020-09-30 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2020-08-10
10:00 📅
Ergänzende Informationen Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Elektronische Zahlung wird verwendet
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP4Y9SDNJ3
Körper überprüfen
Name: 1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Leipzig
Postanschrift: PF 10 13 64
Postort: Leipzig
Postleitzahl: 04013
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 3419773800📞
Fax: +49 3419771049 📠
URL: https://www.lds.sachsen.de/index.asp?ID=4421&art_param=363🌏 Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: 1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen
Postanschrift: PF 10 13 64
Postort: Leipzig
Postleitzahl: 04013
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 3419773800📞
Fax: +49 3419771049 📠
URL: https://www.lds.sachsen.de/index.asp?ID=4421&art_param=363🌏 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB muss eine Rüge innerhalb von 10 Tagen nach Erkennen des vermeintlichen Verstoßes gegenüber der Vergabestelle erfolgen. Wird...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB muss eine Rüge innerhalb von 10 Tagen nach Erkennen des vermeintlichen Verstoßes gegenüber der Vergabestelle erfolgen. Wird einer Rüge durch die Vergabestelle nicht abgeholfen, so hat der Bieter gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB innerhalb von 15 Kalendertagen nach Eingang der Mitteilung, dass der Rüge nicht abgeholfen wird, die Möglichkeit, bei der unter Ziff. VI.4.1) bezeichneten Stelle einen Nachprüfungsantrag einzureichen.
Mehr anzeigen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: 1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Leipzig
Postanschrift: PF 10 13 64
Postort: Leipzig
Postleitzahl: 04013
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 3419773800📞
Fax: +49 3419771049 📠
URL: https://www.lds.sachsen.de/index.asp?ID=4421&art_param=363🌏
Quelle: OJS 2020/S 123-300987 (2020-06-25)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2020-12-17) Objekt Umfang der Beschaffung
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 322 245 💰
Beschreibung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Universität Leipzig - Technikum/Analytikum
Linnéstraße 3
04103 Leipzig
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Bewertungskriterien gem. Leistungsverzeichnis
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Dienstleistung/Service und Garantieleistung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 20
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Bedienkomfort/Bedienerfreundlichkeit der Software
Kostenkriterium (Name): Das wirtschaftlichste Angebot hat somit das beste Preis-Leistungs-Verhältnis.
Kostenkriterium (Gewichtung): s.d.
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2020/S 123-300987
Auftragsvergabe
1️⃣
Vertragsnummer: 10007-2020
Titel: Spektroskopisches, abbildendes Ellipsometer
Datum des Vertragsabschlusses: 2020-08-18 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 1
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Accurion GmbH
Postort: Göttingen
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Göttingen🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 315 000 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 322 245 💰