Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen.
Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen.
- Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2021-10-06.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2021-09-01.
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Gerät für die Spitzen-verstärkte-Raman-Spektroskopie (TERS-Setup)
06.21.O.00
Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)📦
Kurze Beschreibung:
“Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die...”
Kurze Beschreibung
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen.
Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen.
- Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%
1️⃣
Ort der Leistung: Jena, Kreisfreie Stadt🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort:
“Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Albert-Einstein-Straße 9 07745 Jena”
Beschreibung der Beschaffung:
“Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die...”
Beschreibung der Beschaffung
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen.
Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Dauer
Datum des Endes: 2022-04-15 📅
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
“- Besonderen Vertragsbedingungen für Lieferleistungen des Leibniz-IPHT Jena
- Eigenerklärungen gemäß ThürVgG
- Eigenerklärung für nicht präqualifizierte Unternehmen”
Bedingungen für die Vertragserfüllung
- Besonderen Vertragsbedingungen für Lieferleistungen des Leibniz-IPHT Jena
- Eigenerklärungen gemäß ThürVgG
- Eigenerklärung für nicht präqualifizierte Unternehmen
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2021-10-06
13:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Englisch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2021-10-06 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2021-10-06
13:00 📅
“Es steht max. ein Budget in Höhe von 336.000,00 Euro netto zur Verfügung.
Bekanntmachungs-ID: CXP4YBRRBVT” Körper überprüfen
Name: Vergabekammer beim Thüringer Landesverwaltungsamt
Postanschrift: Weimarplatz 4
Postort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland 🇩🇪
Quelle: OJS 2021/S 172-448519 (2021-09-01)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2021-10-06) Öffentlicher Auftraggeber Name und Adressen
Name: Leibniz-Institut für Photonische Technologien
URL: https://www.leibniz-ipht.de🌏 Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere Art: eingetragener Verein, Mitglied der Leibniz-Gemeinschaft
Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die...”
Kurze Beschreibung
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM – Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen.
Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen.
Mehr anzeigen Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
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Beschreibung der Beschaffung
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. schreibt ein Gerät für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie aus. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM – Atomic Force Microscopy), Raman-Spektroskopie und plasmonischer Aktivität geeignet sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene zu untersuchen, und zwar mit nanoskaliger Auflösung und molekularer Spezifität. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem Raman-Spektrometer und einem Mikroskop (ausgestattet mit einem Rastermikroskopie-Tisch) bestehen.
Das System muss auch Möglichkeiten für seitliche und untere Beleuchtungsgeometrien beinhalten, um die Untersuchung von transparenten und opaken Proben zu ermöglichen.
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2021/S 172-448519
Auftragsvergabe
1️⃣ Informationen über nicht gewährte Zuschüsse
Es sind keine Angebote oder Teilnahmeanträge eingegangen oder alle wurden abgelehnt
Quelle: OJS 2021/S 197-513476 (2021-10-06)