Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2021-03-04.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2021-01-27.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Lieferung eines Raman-Mikroskops
F41_000349
Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)📦
Kurze Beschreibung:
“Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach...”
Kurze Beschreibung
Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.
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Geschätzter Wert ohne MwSt: EUR 330 000 💰
1️⃣
Zusätzliche Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)📦
Ort der Leistung: Oberspreewald-Lausitz🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: BTU Cottbus-Senftenberg
Universitätsplatz 1
01968 Senftenberg
Beschreibung der Beschaffung:
“Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach...”
Beschreibung der Beschaffung
Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Service
Qualitätskriterium (Gewichtung): 10
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Technisch-inhaltliche Anforderungen
Qualitätskriterium (Gewichtung): 60
Preis (Gewichtung): 30
Umfang der Beschaffung
Geschätzter Gesamtwert ohne MwSt: EUR 330 000 💰
Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Der nachstehende Zeitrahmen ist in Monaten ausgedrückt.
Beschreibung
Dauer: 3
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen: /
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien: /
Bedingungen für die Teilnahme
/
Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“— 3-5 vergleichbare Referenzanlagen in den letzten 3 Jahren durch Vorlage einer Eigenerklärung oder sonstiger Nachweis,
— Kartierung der Stapelung von...”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien
— 3-5 vergleichbare Referenzanlagen in den letzten 3 Jahren durch Vorlage einer Eigenerklärung oder sonstiger Nachweis,
— Kartierung der Stapelung von 2D-Materialien durch Vorlage/Nachweis über wiss. Artikel in referierten Fachzeitschriften,
— Mindestens 10-jährige Marktpräsenz bzgl. Raman-Mikroskopen und international agierende F&E durch Vorlage einer Eigenerklärung.
Mehr anzeigen Bedingungen für die Teilnahme
Bedingungen für die Teilnahme (technische und berufliche Fähigkeiten): /
Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung: /
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2021-03-04
14:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2021-04-19 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2021-03-04
14:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote (Informationen über die befugten Personen und das Öffnungsverfahren):
“Die Öffnung der Angebote erfolgt im Vier-Augen-Prinzip über den Vergabemarktplatz. Eine bieterseitige Teilnahme ist lt. VgV nicht zulässig.”
Ergänzende Informationen Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Elektronische Zahlung wird verwendet
Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP9YY0R58X
Körper überprüfen
Name:
“Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Energie”
Postanschrift: Heinrich-Mann-Allee 107
Postort: Potsdam
Postleitzahl: 14473
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 3318661610📞
Fax: +49 3318661652 📠 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse am Auftrag hat und eine...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse am Auftrag hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Abs. 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. Der Antrag ist unzulässig, soweit:
1) der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht unverzüglich gerügt hat,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der Antrag ist schriftlich bei der Vergabekammer einzureichen und unverzüglich zu begründen.
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Quelle: OJS 2021/S 021-049138 (2021-01-27)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2021-04-30) Öffentlicher Auftraggeber Name und Adressen
E-Mail: christin.markus@b-tu.de📧
Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
“Beschaffung eines Raman-Mikroskops
Das Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der...”
Kurze Beschreibung
Beschaffung eines Raman-Mikroskops
Das Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
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Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 328470.69 💰
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Beschaffung eines Raman-Mikroskops
Das Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der...”
Beschreibung der Beschaffung
Beschaffung eines Raman-Mikroskops
Das Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2021/S 021-049138
Auftragsvergabe
1️⃣
Vertragsnummer: 21-1504-137-0112
Titel: Lieferung eines Raman-Mikroskops
Datum des Vertragsabschlusses: 2021-04-30 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 1
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: HORIBA Jobin Yvon GmbH
Postanschrift: Neuhofstraße 9
Postort: Bensheim
Postleitzahl: 64625
Land: Deutschland 🇩🇪
Region: Bergstraße🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU
Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Geschätzter Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 330 000 💰
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 328470.69 💰
Ergänzende Informationen Zusätzliche Informationen
Bekanntmachungs-ID: CXP9YY0RCRZ
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse am Auftrag hat und eine...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse am Auftrag hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Abs. 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. Der Antrag ist unzulässig, soweit
1. der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht unverzüglich gerügt hat,
2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der Antrag ist schriftlich bei der Vergabekammer einzureichen und unverzüglich zu begründen.
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Quelle: OJS 2021/S 087-224772 (2021-04-30)