Gegenstand des vorliegenden Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines Rasterkraft-mikroskop (Atomic Force Microscope, AFM) zur reproduzierbaren Messung und Analyse von mind. 150 mm, 200 mm Wafern sowie 6´´ Maskensubstraten.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2022-04-13.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2022-03-11.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Auftragsbekanntmachung (2022-03-11) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Referenznummer: 2022/504
Kurze Beschreibung:
“Gegenstand des vorliegenden Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines Rasterkraft-mikroskop (Atomic Force Microscope, AFM) zur reproduzierbaren Messung...”
Kurze Beschreibung
Gegenstand des vorliegenden Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines Rasterkraft-mikroskop (Atomic Force Microscope, AFM) zur reproduzierbaren Messung und Analyse von mind. 150 mm, 200 mm Wafern sowie 6´´ Maskensubstraten.
“Für den Erwerb der verfahrensgegenständlichen Rasterelektronenmikroskops erhält das IMS EFRE-Fördermittel.”
Quelle: OJS 2022/S 053-137464 (2022-03-11)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2022-11-09) Objekt Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 1 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge