Objekt Umfang der Beschaffung
Titel:
“Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse - PR44983 - 3440 - W
PR44983 - 3440 - W”
Produkte/Dienstleistungen: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke📦
Kurze Beschreibung: Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse
1️⃣
Ort der Leistung: Bayern🏙️
Hauptstandort oder Erfüllungsort: Fraunhofer AISEC
Lichtenbergstraße 11
85748 Garching
Deutschland
Beschreibung der Beschaffung:
“Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden...”
Beschreibung der Beschaffung
Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden Messverfahren (K1) unterstützten:
Photonen Emission Measurement (PEM): Messungen der im IC abgestrahlten Photonen durch eine geeignete hochempfindliche NIR-Kamera.
Thermal Laser Stimulation (z.B. OBIRCH): Stimulation des Device under Test (DUT) mittels NIR-Laser (ca. 1300nm) zur lokalen Erwärmung des DUT (kein photoelektrischer Effekt). Messung des Effekts auf das DUT über Änderungen an Strom oder Spannung.
Laser Voltage Probing (LVP) / Electro Optical Probing (EOP): Analyse des DUT mittels fokussierter NIR-Lichtquelle (Laser oder inkohärente Lichtquelle) und Messung des reflektierten Strahls mittels hochempfindlicher Photodiode (bspw. Avalanche Photo Diode).
Laser-assisted device alteration (LADA): Verwendung eines NIR-Laser (ca. 1064 nm) zur temporären Änderung des Schaltverhaltens von Transistoren im DUT
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium, und alle Kriterien werden nur in den Auftragsunterlagen genannt
Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Der nachstehende Zeitrahmen ist in Monaten ausgedrückt.
Beschreibung
Dauer: 5
Informationen über Optionen
Optionen ✅
Beschreibung der Optionen:
“- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich
- Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen
-...”
Beschreibung der Optionen
- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich
- Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen
- Hochfrequenz EOP-Modul: Bandbreite der Photodiode > 5 GHz, Abtastrate > 10 GHz
- Externe Vakuumpumpe, sofern diese für den Betrieb des Gerätes erforderlich ist
- Wartungsvertrag über eine Laufzeit von 2 Jahren.
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Informationen über die Fonds der Europäischen Union: Efre
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6” Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6” Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6” Bedingungen für den Vertrag
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
“Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien...”
Bedingungen für die Vertragserfüllung
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen; deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2022-10-13
10:30 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Das Angebot muss gültig sein bis: 2022-12-12 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2022-10-13
10:30 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote (Informationen über die befugten Personen und das Öffnungsverfahren): entfällt
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen,...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf zehn Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB) . Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).
Mehr anzeigen Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de📧
URL: https://www.fraunhofer.de🌏
Quelle: OJS 2022/S 179-504174 (2022-09-13)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2022-11-22) Objekt Umfang der Beschaffung
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): EUR 0.01 💰
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden...”
Beschreibung der Beschaffung
Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden Messverfahren (K1) unterstützten: Photonen Emission Measurement (PEM): Messungen der im IC abgestrahlten Photonen durch eine geeignete hochempfindliche NIR-Kamera. Thermal Laser Stimulation (z.B. OBIRCH): Stimulation des Device under Test (DUT) mittels NIR-Laser (ca. 1300nm) zur lokalen Erwärmung des DUT (kein photoelektrischer Effekt). Messung des Effekts auf das DUT über Änderungen an Strom oder Spannung. Laser Voltage Probing (LVP) / Electro Optical Probing (EOP): Analyse des DUT mittels fokussierter NIR-Lichtquelle (Laser oder inkohärente Lichtquelle) und Messung des reflektierten Strahls mittels hochempfindlicher Photodiode (bspw. Avalanche Photo Diode). Laser-assisted device alteration (LADA): Verwendung eines NIR-Laser (ca. 1064 nm) zur temporären Änderung des Schaltverhaltens von Transistoren im DUT
Mehr anzeigen Vergabekriterien
Preis
Informationen über Optionen
Beschreibung der Optionen:
“- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich - Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen -...”
Beschreibung der Optionen
- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich - Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen - Hochfrequenz EOP-Modul: Bandbreite der Photodiode > 5 GHz, Abtastrate > 10 GHz - Externe Vakuumpumpe, sofern diese für den Betrieb des Gerätes erforderlich ist - Wartungsvertrag über eine Laufzeit von 2 Jahren.
Verfahren Administrative Informationen
Frühere Veröffentlichungen zu diesem Verfahren: 2022/S 179-504174
Auftragsvergabe
1️⃣
Vertragsnummer: 1
Titel: Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse
Datum des Vertragsabschlusses: 2022-11-22 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 2
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH
Postanschrift: Arzbergerstr. 10
Postort: Herrsching
Postleitzahl: 82211
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 81523750📞
E-Mail: info@hamamatsu.de📧
Fax: +49 81522658 📠
Region: Starnberg🏙️
Der Auftragnehmer ist ein KMU ✅ Angaben zum Wert des Auftrags/der Partie (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: EUR 0.01 💰
Quelle: OJS 2022/S 228-654443 (2022-11-22)