Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse - PR44983 - 3440 - W

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12

Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2022-10-13. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2022-09-13.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH

Wer?

• Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12

Wie?

• Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke › Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke

Wo?

• Oberbayern › München, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2022-09-13	Auftragsbekanntmachung
2022-11-22	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2022-09-13)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Referenznummer: PR44983 - 3440 - W
Kurze Beschreibung: Optisches Messsystem für IC Fehleranalyse
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke 📦
Ort der Leistung
NUTS-Region: Bayern 🏙️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: https://vergabe.fraunhofer.de/ 🌏
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
URL der Dokumente: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/TenderingProcedureDetails?function=_Details&TenderOID=54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6 🌏
URL der Teilnahme: https://vergabe.fraunhofer.de 🌏

Referenz
Daten
Absendedatum: 2022-09-13 📅
Einreichungsfrist: 2022-10-13 📅
Veröffentlichungsdatum: 2022-09-16 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2022/S 179-504174
ABl. S-Ausgabe: 179
Zusätzliche Informationen
entfällt

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden Messverfahren (K1) unterstützten:

 Photonen Emission Measurement (PEM): Messungen der im IC abgestrahlten Photonen durch eine geeignete hochempfindliche NIR-Kamera.

 Thermal Laser Stimulation (z.B. OBIRCH): Stimulation des Device under Test (DUT) mittels NIR-Laser (ca. 1300nm) zur lokalen Erwärmung des DUT (kein photoelektrischer Effekt). Messung des Effekts auf das DUT über Änderungen an Strom oder Spannung.

 Laser Voltage Probing (LVP) / Electro Optical Probing (EOP): Analyse des DUT mittels fokussierter NIR-Lichtquelle (Laser oder inkohärente Lichtquelle) und Messung des reflektierten Strahls mittels hochempfindlicher Photodiode (bspw. Avalanche Photo Diode).

 Laser-assisted device alteration (LADA): Verwendung eines NIR-Laser (ca. 1064 nm) zur temporären Änderung des Schaltverhaltens von Transistoren im DUT

Dauer: 5 Monate
Beschreibung der Optionen:

- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich

- Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen

- Hochfrequenz EOP-Modul: Bandbreite der Photodiode > 5 GHz, Abtastrate > 10 GHz

- Externe Vakuumpumpe, sofern diese für den Betrieb des Gerätes erforderlich ist

- Wartungsvertrag über eine Laufzeit von 2 Jahren.

Bezeichnung des von der EU finanzierten Projekts oder Programms: Efre
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort:

Fraunhofer AISEC

Lichtenbergstraße 11

85748 Garching

Deutschland

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:

Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6

Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:

Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6

Technische und berufliche Fähigkeiten:

Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien: (URL) https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6

Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:

Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen; deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.

Verfahren
Rechtsgrundlage: 32014L0024
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 10:30
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2022-12-12 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2022-10-13 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 10:30
Zusätzliche Informationen: entfällt

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Forschung und Entwicklung
Kontakt
Dokumente URL: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/TenderingProcedureDetails?function=_Details&TenderOID=54321-Tender-18337028e0d-2fdda33e318592e6 🌏

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf zehn Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB) . Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).

Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de 📧
Internetadresse: https://www.fraunhofer.de 🌏
Quelle: OJS 2022/S 179-504174 (2022-09-13)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2022-11-22)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Vergabekriterien
Niedrigster Preis

Referenz
Daten
Absendedatum: 2022-11-22 📅
Veröffentlichungsdatum: 2022-11-25 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2022/S 228-654443
Verweist auf Bekanntmachung: 2022/S 179-504174
ABl. S-Ausgabe: 228

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Gegenstand der Beschaffung ist ein optisches Analysesystem auf Basis eines Laser-Mikroskops für integrierte Schaltkreise (ICs). Das Gerät soll die folgenden Messverfahren (K1) unterstützten:  Photonen Emission Measurement (PEM): Messungen der im IC abgestrahlten Photonen durch eine geeignete hochempfindliche NIR-Kamera.  Thermal Laser Stimulation (z.B. OBIRCH): Stimulation des Device under Test (DUT) mittels NIR-Laser (ca. 1300nm) zur lokalen Erwärmung des DUT (kein photoelektrischer Effekt). Messung des Effekts auf das DUT über Änderungen an Strom oder Spannung.  Laser Voltage Probing (LVP) / Electro Optical Probing (EOP): Analyse des DUT mittels fokussierter NIR-Lichtquelle (Laser oder inkohärente Lichtquelle) und Messung des reflektierten Strahls mittels hochempfindlicher Photodiode (bspw. Avalanche Photo Diode).  Laser-assisted device alteration (LADA): Verwendung eines NIR-Laser (ca. 1064 nm) zur temporären Änderung des Schaltverhaltens von Transistoren im DUT

Beschreibung der Optionen:

- Zusätzliche Si-CCD Kamera für den VIS und NIR Bereich - Zusätzliche Laserquelle zur Markierung von Positionen auf der Chipoberfläche mittels Einbrennen - Hochfrequenz EOP-Modul: Bandbreite der Photodiode > 5 GHz, Abtastrate > 10 GHz - Externe Vakuumpumpe, sofern diese für den Betrieb des Gerätes erforderlich ist - Wartungsvertrag über eine Laufzeit von 2 Jahren.

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2022-11-22 📅
Name: Hamamatsu Photonics Deutschland GmbH
Postanschrift: Arzbergerstr. 10
Postort: Herrsching
Postleitzahl: 82211
Land: Deutschland 🇩🇪
Telefon: +49 81523750 📞
E-Mail: info@hamamatsu.de 📧
Land: Starnberg 🏙️
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Quelle: OJS 2022/S 228-654443 (2022-11-22)

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