Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird sowohl zum gezielten Implantieren mit isotopenreinen Ionenarten bzw. Beschießen eines (Diamant-) Substrats mit Ionen als auch zur Erzeugung von kleinen Strukturen mit einer Größe im Mikro- bzw. Nanometerbereich an der Oberfläche des Substrats verwendet. Durch die SEM-Einheit können kleinste Oberflächenstrukturen in der Größenordnung von wenigen Nanometern abgebildet und dadurch charakterisiert werden. Erweitert wird der Funktionsumfang des Geräts durch ein Gas-Injektions-System (GIS) und einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS)-Detektor. Das Gerät wird von einer wechselnden Nutzer-gruppe mit unterschiedlichem Erfahrungslevel genutzt. Beschaffungsgegenstand • Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung • Service und Wartung gemäß Spezifikation Weitere Details zum Erbringen der Leistung sind den Vergabeunterlagen Anlage 03 Leistungsbeschreibung zu entnehmen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2024-02-01.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2024-01-04.
Auftragsbekanntmachung (2024-01-04) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: FIB-SEM-System
Reference number: 2024 / GV 7585469
Kurze Beschreibung:
“Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird...”
Kurze Beschreibung
Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird sowohl zum gezielten Implantieren mit isotopenreinen Ionenarten bzw. Beschießen eines (Diamant-) Substrats mit Ionen als auch zur Erzeugung von kleinen Strukturen mit einer Größe im Mikro- bzw. Nanometerbereich an der Oberfläche des Substrats verwendet. Durch die SEM-Einheit können kleinste Oberflächenstrukturen in der Größenordnung von wenigen Nanometern abgebildet und dadurch charakterisiert werden. Erweitert wird der Funktionsumfang des Geräts durch ein Gas-Injektions-System (GIS) und einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS)-Detektor. Das Gerät wird von einer wechselnden Nutzer-gruppe mit unterschiedlichem Erfahrungslevel genutzt.
Beschaffungsgegenstand
• Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung
• Service und Wartung gemäß Spezifikation
Weitere Details zum Erbringen der Leistung sind den Vergabeunterlagen Anlage 03 Leistungsbeschreibung zu entnehmen.
Mehr anzeigen
Produkte/Dienstleistungen: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)📦 Informationen über Lose
Höchstzahl der Lose, die an einen Bieter vergeben werden können: 1
Angebote können für eine maximale Anzahl von Losen eingereicht werden: 1
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:
“Im Innovationszentrum Ulm werden in einem vom DLR zur Verfügung gestellten Reinraum in Zusammenarbeit von Industrie und DLR Quantenprozessoren auf Basis von...”
Beschreibung der Beschaffung
Im Innovationszentrum Ulm werden in einem vom DLR zur Verfügung gestellten Reinraum in Zusammenarbeit von Industrie und DLR Quantenprozessoren auf Basis von negativ geladenen NV (nitrogen vacancy)-Zentren in Diamant gebaut. Für die Ausstattung dieses Reinraums werden Großgerätebeschafft, um die Entwicklung eines NV-Zentren-basierten Quantencomputers bestmöglich zu ermöglichen. Im Rahmen dieser Ausschreibung wird ein FIB-SEM-System zur gezielten Erzeugung von NV-Zentren in Diamant, sowie zur Oberflächenbearbeitung und -untersuchung beschafft. Ziel ist es, NV-Zentren im Diamanten möglichst positionsgenau zu erzeugen.
Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird sowohl zum gezielten Implantieren mit isotopenreinen Ionenarten bzw. Beschießen eines (Diamant-) Substrats mit Ionen als auch zur Erzeugung von kleinen Strukturen mit einer Größe im Mikro- bzw. Nanometerbereich an der Oberfläche des Substrats verwendet. Durch die SEM-Einheit können kleinste Oberflächenstrukturen in der Größenordnung von wenigen Nanometern abgebildet und dadurch charakterisiert werden. Erweitert wird der Funktionsumfang des Geräts durch ein Gas-Injektions-System (GIS) und einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS)-Detektor. Das Gerät wird von einer wechselnden Nutzer-gruppe mit unterschiedlichem Erfahrungslevel genutzt.
Beschaffungsgegenstand
• Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung
• Service und Wartung gemäß Spezifikation
Weitere Details können den Vergabeunterlagen Anlage 03 Leistungsbeschreibung entnommen werden.
Mehr anzeigen
Zusätzliche Informationen:
“#Besonders geeignet für:freelance#, #Besonders geeignet für:selbst#, #Besonders geeignet für:startup#”
Ort der Leistung: Ulm, Stadtkreis🏙️ Vergabekriterien
Preis ✅
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Qualität; vgl. auch Wertungsmatrix der Anlage 06 der Vergabeunterlagen.
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅ Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-02-01 14:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2024-02-01 14:15:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Handelsregisterauszug: Beim Einreichen der Unterlagen ist ein Handelsregisterauszug oder ein gleichwertiger Nachweis nicht älter als 3 Monate einzureichen.”
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Berufshaftpflichtversicherung: Beim Einreichen der Unterlagen ist eine Berufshaftpflichtversicherung nachzuweisen oder ein Nachweis, dass diese bei...”
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen
Berufshaftpflichtversicherung: Beim Einreichen der Unterlagen ist eine Berufshaftpflichtversicherung nachzuweisen oder ein Nachweis, dass diese bei Zuschlagserteilung über die angegebene Höhe abgeschlossen wird. Der Nachweis darf nicht älter als 3 Monate sein. Die Höhe für Personenschäden beträgt EUR 3 Mio.; die Höhe für Sachschäden beträgt EUR 3 Mio.
Mehr anzeigen Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“DIN EN ISO 9001 Zertifikat”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Referenzen” Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Umsätze der letzten 3 Jahre. Bei Start-Up der Businessplan.”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Unternehmensprofil”
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Mitarbeiterentwicklung” Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:
“Eigenerklärung BMWK und Eigenerklärung GWB” Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:
“Eigenerklärungen ILO und MiloG”
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes
Nationale Registrierungsnummer: N.n.
Postanschrift: Villemombler Strasse 76
Postleitzahl: 53123
Postort: Bonn
Region: Bonn, Kreisfreie Stadt🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vk@bundeskartellamt.bund.de📧
Telefon: +49 22894990📞
Fax: +49 2289499163 📠
URL: https://www.bundeskartellamt.de🌏 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Nach § 160 Abs. 3 S. 1 Nr. 1 bis 4 GWB ist der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit
• der Antragsteller den geltend...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Nach § 160 Abs. 3 S. 1 Nr. 1 bis 4 GWB ist der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit
• der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat,
• Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
• Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
• mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht ab-helfen zu wollen, vergangen sind.
Nach § 135 Abs. 2 GWB endet die Frist, mit der die Unwirksamkeit eines Vertrages in einem Nach-prüfungsverfahren geltend gemacht werden kann, 30 Kalendertage nach der Information der betroffenen Bieter und Bewerber durch den öffentlichen Auftraggeber über den Abschluss des Vertrags, jedoch nicht später als sechs Monate nach Vertragsschluss. Im Falle der Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union endet die Frist 30 Kalendertage nach dieser Veröffentlichung.
Mehr anzeigen Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Elektronische Zahlung wird verwendet
Quelle: OJS 2024/S 005-010251 (2024-01-04)