Flugzeit-Massenspektrometrie-System

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.

Das Vergabeverfahren zielt auf die Beschaffung, Lieferung und betriebsfertigen Installation eines Flugzeit-Massenspektrometrie-Systems (ToF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) ab.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2024-10-22. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2024-09-18.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• IonTof GmbH

Wer?

• Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.

Wie?

• Spektrometer › Massenspektrometer

Wo?

• Dresden › Dresden, Kreisfreie Stadt
• Köln › Bonn, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2024-09-18	Auftragsbekanntmachung
2024-11-11	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2024-09-18)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Flugzeit-Massenspektrometrie-System
Referenznummer: EUOV2418
Kurze Beschreibung:

Das Vergabeverfahren zielt auf die Beschaffung, Lieferung und betriebsfertigen Installation eines Flugzeit-Massenspektrometrie-Systems (ToF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) ab.

Art des Vertrags: Lieferungen
Produkte/Dienstleistungen: Massenspektrometer 📦
Beschreibung
Interne Kennung: LOT-0000
Beschreibung der Beschaffung:

Das ToF-SIMS-System soll zur Erweiterung des Nutzerbetriebs und der Forschung/Entwicklung von neuen Materialien, vorwiegend anorganischer Festkörper, am Ionenstrahlzentrum (IBC) des HZDR eingesetzt werden. Durch die Möglichkeit der oberflächensensitiven Elementanalyse mit einer lateralen Auflösung von kleiner 200 nm soll es die am IBC vorhandene bildgebende Analytik erweitern. Die Quantifizierung der Elementanalytik soll zusätzlich durch Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) gewährleistet werden. Das System wird deshalb an ein Ionenstrahlkanal des 6 MV Tandem-Beschleunigers im IBC installiert werden. Zudem wird ein mechanisches Transfersystem benötigt um den Probenhalter des Systems in eine externe Messkammer, die nicht Teil des Angebotes ist, zu transferieren, ohne dabei das Vakuum zu unterbrechen. Letztere Kammer hat eine Höhe von 154 cm über dem Boden und wird sich in ca. 2 m Entfernung von der ToF-SIMS Analysekammer befinden und über einen CF-160 Strandard-Flansch verfügen. Mit dem ToF-SIMS-System sind folgende analytische Aufgaben zu bearbeiten: chemische Analyse von Oberflächen und von Schichten. Die chemische Analyse erfolgt durch Detektion der emittierten Sekundärionen, die durch einen Primärionenstrahl von der Oberfläche herausgelöst wurden (gesputtert/zerstäubt). Der Primärionenstrahl ist feinfokussiert und wird durch ein elektrisches Feld gerastert, wodurch ein ortsaufgelöstes Bild (2D) der chemischen Oberflächezusammensetzung gewonnen werden kann. Zusätzlich soll ein Tiefenprofil der chemischen Zusammensetzung durch die kontinuierliche Abtragung der Probe gemessen werden, wodurch eine 3D chemische Analyses erstellt werden kann. Besondere Anforderungen werden an eine hohe Sensitivität, Dynamik und lateraler Auflösung bzw. Tiefenauflösung des Gerätes gestellt: - Hoher Durchsatz der delektierten Sekundärionen mittels eines Flugzeit-Massenspektrometer - Hohe Massenauflösung durch Verwendung eines Reflektron-Flugzeit-Massenspektrometers und ultraschneller Zählelektronik - Feinfokussierung der Primörionenquelle für hohe laterale Auflösung, mindestens kleiner als 200 nm. - Hohe Detektionsdynamik der Sekundärionen für eine hohe Sensitivität

Beschreibung der Beschaffung

Das ToF-SIMS-System soll zur Erweiterung des Nutzerbetriebs und der Forschung/Entwicklung von neuen Materialien, vorwiegend anorganischer Festkörper, am Ionenstrahlzentrum (IBC) des HZDR eingesetzt werden. Durch die Möglichkeit der oberflächensensitiven Elementanalyse mit einer lateralen Auflösung von kleiner 200 nm soll es die am IBC vorhandene bildgebende Analytik erweitern. Die Quantifizierung der Elementanalytik soll zusätzlich durch Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) gewährleistet werden. Das System wird deshalb an ein Ionenstrahlkanal des 6 MV Tandem-Beschleunigers im IBC installiert werden. Zudem wird ein mechanisches Transfersystem benötigt um den Probenhalter des Systems in eine externe Messkammer, die nicht Teil des Angebotes ist, zu transferieren, ohne dabei das Vakuum zu unterbrechen. Letztere Kammer hat eine Höhe von 154 cm über dem Boden und wird sich in ca. 2 m Entfernung von der ToF-SIMS Analysekammer befinden und über einen CF-160 Strandard-Flansch verfügen.

Mit dem ToF-SIMS-System sind folgende analytische Aufgaben zu bearbeiten: chemische Analyse von Oberflächen und von Schichten.
Die chemische Analyse erfolgt durch Detektion der emittierten Sekundärionen, die durch einen Primärionenstrahl von der Oberfläche herausgelöst wurden (gesputtert/zerstäubt).
Der Primärionenstrahl ist feinfokussiert und wird durch ein elektrisches Feld gerastert, wodurch ein ortsaufgelöstes Bild (2D) der chemischen Oberflächezusammensetzung gewonnen werden kann.
Zusätzlich soll ein Tiefenprofil der chemischen Zusammensetzung durch die kontinuierliche Abtragung der Probe gemessen werden, wodurch eine 3D chemische Analyses erstellt werden kann.

Besondere Anforderungen werden an eine hohe Sensitivität, Dynamik und lateraler Auflösung bzw. Tiefenauflösung des Gerätes gestellt:
- Hoher Durchsatz der delektierten Sekundärionen mittels eines Flugzeit-Massenspektrometer
- Hohe Massenauflösung durch Verwendung eines Reflektron-Flugzeit-Massenspektrometers und ultraschneller Zählelektronik
- Feinfokussierung der Primörionenquelle für hohe laterale Auflösung, mindestens kleiner als 200 nm.
- Hohe Detektionsdynamik der Sekundärionen für eine hohe Sensitivität

Postanschrift: Bautzner Landstraße 400
Postleitzahl: 01328
Stadt: Dresden
Land: Deutschland 🇩🇪
Ort der Leistung: Dresden, Kreisfreie Stadt 🏙️
Dauer: 24 Monate
Weitere Informationen zur Verlängerung: Garantiezeitverlängerung auf 2 Jahre.
Informationen über Optionen
Optionen ✅
Beschreibung der Optionen: Verlangerung der Garantiezeit von einem auf zwei Jahre.
Vergabekriterien
Qualitätskriterium (Bezeichnung): Leistung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 50.00
Preis ✅
Preis (Gewichtung): 50.00
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0000

Verfahren
Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅
Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU
Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2024-10-22 12:00:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Bedingungen für die Einreichung eines Angebots
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Zusätzliche Informationen: gemäß gesetzlicher Vorgaben aus VgV
Vergabekriterien
Gewichtungsart: Gewichtung (Prozentanteil, genau)

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Bedingungen:

Eigenerklärung über den Eintrag in einem Berufs- oder Handelsregister nach Maßgabe der Rechtsvorschriften des Staats, in dem der Bieter niedergelassen ist. Eigenerklärung zu den in §§ 123, 124 GWB genannten Ausschlussgründen. Eigenerklärung RUS-Sanktionen

Technische und berufliche Fähigkeiten
Liste und kurze Beschreibung der Auswahlkriterien:

Eigenerklärung zur Angabe der wesentlichen in den letzten 3 Jahren erbrachten Leistungen Mindestanforderung: mind. 1 Referenz in Art und Umfang vergleichbar mit der ausgeschriebenen Leistung.

Bedingungen für die Teilnahme
Ausschlussgrund:

Beteiligung an einer kriminellen Vereinigung

Betrugsbekämpfung

Der Zahlungsunfähigkeit vergleichbare Lage gemäß nationaler Rechtsvorschriften

+ 20 weitere

Direkte oder indirekte Beteiligung an der Vorbereitung des Vergabeverfahrens

Einstellung der gewerblichen Tätigkeit

Entrichtung von Steuern

Falsche Angaben, verweigerte Informationen, die nicht in der Lage sind, die erforderlichen Unterlagen vorzulegen, und haben vertrauliche Informationen über dieses Verfahren erhalten.

Geldwäsche oder Terrorismusfinanzierung

Interessenkonflikt aufgrund seiner Teilnahme an dem Vergabeverfahren

Kinderarbeit und andere Formen des Menschenhandels

Konkurs

Korruption

Schwere Verfehlung im Rahmen der beruflichen Tätigkeit

Terroristische Straftaten oder Straftaten im Zusammenhang mit terroristischen Aktivitäten

Vereinbarungen mit anderen Wirtschaftsteilnehmern zur Verzerrung des Wettbewerbs

Vergleichsverfahren

Verstoß gegen arbeitsrechtliche Verpflichtungen

Verstoß gegen sozialrechtliche Verpflichtungen

Verstoß gegen umweltrechtliche Verpflichtungen

Verwaltung der Vermögenswerte durch einen Insolvenzverwalter

Vorzeitige Beendigung, Schadensersatz oder andere vergleichbare Sanktionen

Zahlung der Sozialversicherungsbeiträge

Zahlungsunfähigkeit

Beschreibung der Ausschlussgründe: siehe gesetzliche Regelung (§ 123, §124, § 125 GWB)

Öffentlicher Auftraggeber
Name und Adressen
Name: Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.
Nationale Registrierungsnummer: 992-80200-35
Postanschrift: Bautzner Landstraße 400
Postleitzahl: 01328
Postort: Dresden
Region: Dresden, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontaktperson: Abteilung Vergabe- und Beschaffungswesen
E-Mail: vergabe@hzdr.de 📧
Telefon: +49 3512603159 📞
Fax: +49 3512603166 📠
URL: https://www.hzdr.de 🌏
Federführendes Mitglied ✅
Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
Haupttätigkeit
Bildung
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.tender24.de/NetServer/TenderingProcedureDetails?function=_Details&TenderOID=54321-Tender-191ffef4a75-7cf68cbd6dff337c 🌏
Teilnahme-URL: https://www.tender24.de 🌏
Sprache des Beschaffungsdokuments: Deutsch 🗣️
Elektronische Einreichung: Zulässig

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postleitzahl: 53123
Postort: Bonn
Region: Bonn, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vk@bundeskartellamt.bund.de 📧
Telefon: +49 2289499-0 📞
Fax: +49 2289499-163 📠
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Postanschrift: Villemomblerstr. 76
Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Bekanntmachungsangaben
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-09-18+02:00 📅
Quelle: OJS 2024/S 183-562406 (2024-09-18)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2024-11-11)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.): -1 EUR 💰
Beschreibung
Beschreibung der Beschaffung:

Beschreibung der Beschaffung

Das ToF-SIMS-System soll zur Erweiterung des Nutzerbetriebs und der Forschung/Entwicklung von neuen Materialien, vorwiegend anorganischer Festkörper, am Ionenstrahlzentrum (IBC) des HZDR eingesetzt werden. Durch die Möglichkeit der oberflächensensitiven Elementanalyse mit einer lateralen Auflösung von kleiner 200 nm soll es die am IBC vorhandene bildgebende Analytik erweitern. Die Quantifizierung der Elementanalytik soll zusätzlich durch Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) gewährleistet werden. Das System wird deshalb an ein Ionenstrahlkanal des 6 MV Tandem-Beschleunigers im IBC installiert werden. Zudem wird ein mechanisches Transfersystem benötigt um den Probenhalter des Systems in eine externe Messkammer, die nicht Teil des Angebotes ist, zu transferieren, ohne dabei das Vakuum zu unterbrechen. Letztere Kammer hat eine Höhe von 154 cm über dem Boden und wird sich in ca. 2 m Entfernung von der ToF-SIMS Analysekammer befinden und über einen CF-160 Strandard-Flansch verfügen.

Mit dem ToF-SIMS-System sind folgende analytische Aufgaben zu bearbeiten: chemische Analyse von Oberflächen und von Schichten.
Die chemische Analyse erfolgt durch Detektion der emittierten Sekundärionen, die durch einen Primärionenstrahl von der Oberfläche herausgelöst wurden (gesputtert/zerstäubt).
Der Primärionenstrahl ist feinfokussiert und wird durch ein elektrisches Feld gerastert, wodurch ein ortsaufgelöstes Bild (2D) der chemischen Oberflächezusammensetzung gewonnen werden kann.
Zusätzlich soll ein Tiefenprofil der chemischen Zusammensetzung durch die kontinuierliche Abtragung der Probe gemessen werden, wodurch eine 3D chemische Analyses erstellt werden kann.

Besondere Anforderungen werden an eine hohe Sensitivität, Dynamik und lateraler Auflösung bzw. Tiefenauflösung des Gerätes gestellt:
- Hoher Durchsatz der delektierten Sekundärionen mittels eines Flugzeit-Massenspektrometer
- Hohe Massenauflösung durch Verwendung eines Reflektron-Flugzeit-Massenspektrometers und ultraschneller Zählelektronik
- Feinfokussierung der Primörionenquelle für hohe laterale Auflösung, mindestens kleiner als 200 nm.
- Hohe Detektionsdynamik der Sekundärionen für eine hohe Sensitivität

Auftragsvergabe
Ein Auftrag/Los wird vergeben ✅
Los-Identifikationsnummer: LOT-0000
Vertragsnummer: CON-0001
Datum des Vertragsabschlusses: 2024-11-04 📅
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der auf elektronischem Wege eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Kennung des Angebots: TEN-0001
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen: LOT-0000
Name und Anschrift des Auftragnehmers
Name: IONTOF GmbH
Nationale Registrierungsnummer: DE814795257
Postanschrift: Heisenbergstr. 15
Postleitzahl: 48149
Postort: Münster
Region: Münster, Kreisfreie Stadt 🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: sales@iontof.com 📧
Telefon: +49 2501622100 📞
Fax: +49 2511622199 📠
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Mittleres Unternehmen

Öffentlicher Auftraggeber
Kommunikation
Kennung der vorherigen Bekanntmachung: 562406-2024

Ergänzende Informationen
Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:

Rechtsbehelfe gemäß § 160 GWB: 1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein; 2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht; 3) Der Antrag ist unzulässig, soweit: (1) Der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, (2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, (3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, (4) Mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

Bekanntmachungsangaben
Bevorzugtes Datum der Veröffentlichung: 2024-11-11+01:00 📅
Quelle: OJS 2024/S 220-688331 (2024-11-11)

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