Schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM

Kurze Beschreibung

Die Ausschreibung folgt der Genehmigung des DFG Großgeräteantrags (INST 90/1482-1 FUGG) vom 5.1.2024 durch die DFG zur Beschaffung einer „Schnellen Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM“ an der Friedrich-Alexander-Universität (FAU) Erlangen-Nürnberg mit der antragsverantwortlichen Person Prof. Dr. Philipp Pelz. Der Lehrstuhl für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) ist verantwortlich für den Betrieb des Elektronenmikroskopielabors im Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer Abteilung des FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials.

IMN und CENEM beschaffen einen schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM zusammen mit einer Synchronisierungsloesung fuer synchronisierte Aufnahmen von 4D-STEM Daten für weiterführende Methodenentwicklungen im rasant fortschreitenden 4D-STEM-Methodenbereich. Das Gerät integriert methodische Entwicklungen des IMN und wird als einzigartige Kamera an der FAU die Forschungsmöglichkeiten in den folgenden zentralen Anwendungsbereichen maßgeblich erweitern:

(i) strahlsensitive Materialien,
(ii) niedrigdimensionale Materialien/2D-Materialien,
(iii) in situ Mikroskopie sowie
(iv) korrelative und beschleunigte Materialanalysen.

Um dies zu ermöglichen, benötigt die Elektronendirektdetektorkamera eine hohe Bildrate, extrem hohe Elektronenzählrate pro Pixel, exzellente detektive Quanteneffizienz für die Messung von strahlensensitiven Proben und extrem hohe Bildrate bei verringerter Auflösung für die Durchführung von 3D Ptychographie-Experimenten bei atomarer Auflösung.

Hinweis:
Die Ausschreibung umfasst insgesamt 4 Lose. Bei dieser Ausschreibung handelt es sich um Los 1. Gemäß §3 Abs. 9 VgV werden die Lose 2 (Datenverarbeitungs- und -speicherworkstation) und 3 (4D-STEM Scangenerator) nach nationalem Vergaberecht vergeben.
Die Ausschreibung für Los 4 (Präzessions-Elektronenbeugungssystem) kann aufgrund der zwingend notwendigen Kompatibilität zur hiermit ausgeschriebenen Elektronendirektdetektorkamera erst nach erfolgtem Zuschlag für Los 1 erfolgen.


[english] (ohne Gewaehr)

The tender follows the approval of the DFG large-scale equipment application (INST 90/1482-1 FUGG) dated January 5, 2024 by the DFG for the procurement of a “Fast Direct Electron Detector Camera for 4D-STEM” at the Friedrich-Alexander University (FAU) Erlangen-Nuremberg with the Person responsible for the application, Prof. Dr. Philipp Pelz. The Chair of Micro and Nanostructure Research (IMN) is responsible for operating the electron microscopy laboratory in the Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), a department of the FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials.

IMN and CENEM are procuring a fast electron direct detector camera for 4D-STEM together with a synchronization solution for synchronized acquisition of 4D-STEM data for further method developments in the rapidly advancing 4D-STEM method area.

The device integrates methodological developments from IMN and, as a unique camera at FAU, will significantly expand research opportunities in the following key application areas:

(i) radiation-sensitive materials,
(ii) low dimensional materials/2D materials,
(iii) in situ microscopy as well
(iv) correlative and accelerated material analyses.

To make this possible, the electron direct detector camera requires a high frame rate, extremely high electron count rate per pixel, excellent detective quantum efficiency for measuring radiation-sensitive samples, and extremely high frame rate at reduced resolution for performing 3D ptychography experiments at atomic resolution.

Note:
The tender comprises a total of 4 lots. This invitation to tender is for lot 1. In accordance with Section 3 (9) VgV, lots 2 (data processing and storage workstation) and 3 (4D-STEM scan generator) will be awarded in accordance with national procurement law.
The tender for lot 4 (precession electron diffraction system) can only be issued after the contract for lot 1 has bee