FGW - 3. Vergabe (WH)

Beschreibung der Beschaffung

Die Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe FGW e. V. ist eine Forschungsvereinigung mit Forschungseinrichtung der Zuse-Gemeinschaft. Es werden Forschungs- und Entwicklungsprojekte auf den Gebieten Werkzeuge, Werkstoffe, Additive Fertigung und industrielle KI-Anwendung durchgeführt. Die zu beschaffenden Geräte bilden eine Prozesskette zur Präparation von Proben für in-situ-EBSD-Analysen in einem FIB-SEM. Ausgangspunkt werden Bauteile sein, in denen mittels Mikro-CT Defekte oder andere points of interest identifiziert wurden und Proben, die für eine weitere Analyse im FIB-SEM in Kombination mit in-situ-EBSD gezielt herauspräpariert werden sollen. Die Prozesskette soll aus einem System zur Zielpräparation, einem System zum Ionenstrahl-Polieren und einem Beschichtungssystem bestehen. Mit der Prozesskette sollen hauptsächlich Metalle, Kunststoffe, Metall-Kunststoff-Verbunde, beschichte Bauteile, Keramiken und Gläser präpariert werden. Die finalen Oberflächen am Ende der gesamten Prozesskette müssen in-situ EBSD-Analysen ermöglichen aber nicht ausschließlich. Im Falle von Metall-Kunststoff-Verbunden soll die Grenzfläche der verschiedenen Komponenten grenzflächenscharf dargestellt werden, um in folgenden in-situ Analysen den Versagensmechanismus an der Grenzfläche ableiten zu können.

Liste und kurze Beschreibung der Regeln und Kriterien

Folgende Anforderungen sind im Rahmen der Eignung zwingend nachzuweisen: A = Ausschluss Finanzielle Leistungsfähigkeit: - Betriebs- bzw. Berufshaftpflichtversicherung mit Deckungssummen für Personen- und Sachschäden in Höhe von mindestens 3,0 Mio. EUR und Vermögensschäden in Höhe von mindestens 1 Mio. EUR pro Jahr; alternativ: im Auftragsfall wird bestehende Betriebs- bzw. Berufshaftpflichtversicherung gem. der vorstehenden Vorgaben aufgestockt (A); - Bruttogesamtumsatz des Unternehmens bezogen auf die letzten 3 Geschäftsjahre Technische Leistungsfähigkeit/Fachkunde: 3 Referenzen aus Inbetriebnahme-Zeitraum 2021 - 2025 (A): Mit dem Referenzsystem können 3D-Röntgen-CT-Scans, Materialanalysen und Hochgeschwindigkeits-2D-Aufnahmen durchgeführt werden. Einsatz an Forschungseinrichtungen, Universitäten und/oder in F&E-Bereichen (A); unter Nutzung des Systems wurden Ergebnisse in wissenschaftlichen Projekten erzeugt und in internationalen, wissenschaftlichen Journalen veröffentlicht (A). Eigenschaften: Mindestanforderungen an alle Referenzen (A):Verbaute Röntgenröhre besitzt eine Beschleunigungsspannung zwischen 180 und 250 kV; Röntgenröhre weist eine Leistung von 280 W bis 320 W auf; System erlaubt eine Framerate von mind. 90 fps.; System ist mit einem Flächendetektor (mindestens 43 cm x 43 cm) mit einer Aufl. von mind. 2.856 x 2.856 und max. 3.072 x 3.072 Pixel ausgestattet; System weist eine Aufl. von mind. 5 µm auf; Scanbereich deckt mind. eine Höhe von 1.000 mm ab; System verfügt über Schleifringkontakt, der eine Datenverbindung zu einer in-situ Stage und die elektrische Stromversorgung einer in-situ Stage unter kontinuierlicher 360° Rotation ermöglicht; Traglast des Drehtellers zur kontinuierl. 360° Rotation beträgt mind. 40 kg; System ermöglicht Bewegungen in mind. 8 Achsen in einer Standardkonfiguration ohne kundenspezifische Erweiterungen; Abstand Quelle-Flächensensor mind. 1.900 mm; System verfügt über ein Strahlenschutzgehäuse; das Strahlenschutzgehäuse verfügt über mind. eine Tür für Probenbeladung und Entnahme; System verfügt über ein Sichtfenster zur Beobachtung der Probe und der in-situ-Versuche. Zusätzl. erfüllt Referenz 1 (A): System ist mit einer vom Bediener austauschbaren in-situ Stage für Zug-Druck-Prüfungen bei veränderlichen Temperaturen ausgestattet. Diese erfüllt folgende Anforderungen: ermöglicht 360° freie Sichtlinie durch die Probe; Zug- und Druckkraft bis mind. 5 kN; Weg unter Dehnung mind. 10 mm; Weg unter Kompression mind. 5 mm; Heizen und Kühlen im Bereich mind. -20 °C bis mind. 160 °C; in-situ stage ist mittels Script über IO-Schnittstellen in den Messablauf und die Analyse einbindbar. Zusätzl. erfüllt Referenz 2 (A): System ist mit einem zweiten Detektor ausgestattet (Photon-Counting-Detektor); Wechsel zwischen den Detektoren ist automatisiert aus der Software heraus möglich; es besteht eine räuml. Eins-zu-Eins-Übereinstimmung zwischen den Daten der beiden Detektoren; Zahl der möglichen Energy-Bins des Photon-Counting-Detektors erlaubt die Identifikation mehrerer Elemente in einem Scan (mind. 4 Energie-Schwellenwerte); Energie-Auflösung des Photon-Counting-Detektors zweier nebeneinander liegender K-Kanten beträgt für Energien oberhalb 20 keV 1 keV; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht Rekonstruktion und Auswertung unter Nutzung der K-Kanten-Erkennung; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht die Ausgabe von Multi-Energie-Plots; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht die Ausgabe von Dichte und Atomzahl im Scanbereich der vorhandenen Materialien; Software zur Rekonstruktion und Auswertung der Daten des Photon-Counting-Detektors enthält eine Bibliothek zur Auswertung der spektralen Daten; Software zur Rekonstruktion und Auswertung der Daten des Photon-Counting-Detektors erlaubt die Erstellung einer kundenspezifischen Bibliothek von Proben und Materialien. Zusätzl. erfüllt Referenz 3 (A): System ist mit einem zweiten Detektor ausgestattet (Photon-Counting Detektor); Wechsel zwischen den Detektoren ist automatisiert aus der Software heraus möglich; es besteht eine räumliche Eins-zu-Eins-Übereinstimmung zwischen den Daten der beiden Detektoren; Zahl der möglichen Energy-Bins des Photon-Counting-Detektors erlaubt die Identifikation mehrerer Elemente in einem Scan (mindestens 4 Energie-Schwellenwerte); die Energie-Auflösung des Photon-Counting-Detektors zweier nebeneinander liegender K-Kanten beträgt für Energien oberhalb 20 keV 1 keV; es besteht eine räumliche Eins-zu-Eins-Übereinstimmung zwischen den Daten der beiden Detektoren; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht die Rekonstruktion und Auswertung unter Nutzung der K-Kanten-Erkennung; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht die Ausgabe von Multi-Energie-Plots; Software zur Analyse der Daten des Photon-Counting-Detektors ermöglicht die Ausgabe von Dichte und Atomzahl im Scanbereich der vorhandenen Materialien; Software zur Rekonstruktion und Auswertung der Daten des Photon-Counting-Detektors enthält eine Bibliothek zur Auswertung der spektralen Daten; Software zur Rekonstruktion und Auswertung der Daten des Photon-Counting-Detektors erlaubt die Erstellung einer kundenspezifischen Bibliothek von Proben und Materialien; System ist mit einer vom Bediener austauschbaren in-situ Stage für Zug-Druck-Prüfungen ausgestattet. Diese erfüllt folgende Anforderung: ermöglicht 360° freie Sichtlinie durch die Probe; Zug- und Druckkraft bis mind. 5 kN; Weg unter Dehnung mind. 10 mm; Weg unter Kompression mind. 5 mm; in-situ stage ist mittels Script über IO-Schnittstellen in den Messablauf und die Analyse einbindbar. Eine der drei Referenzen hat entweder ein additiv gefertigtes Teil, ein historisches oder geologisches Artefakt oder ein den Forschungsarbeiten der FGW nahes Bauteil oder Produkt betrachtet (A) Zertifizierung gemäß DIN EN 9001 und 14001 (A)

Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren

Die Vergabestelle ist der Auffassung, dass es sich bei der Vergabe nicht um einen öffentlichen Auftrag nach § 99 Abs. 1 GWB handelt. Die Vergabestelle ist weder öffentliche Auftraggeberin im Sinne von § 99 Nr.1 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) noch im Sinne von § 99 Abs, 1 Nr. 2 GWB. Vorbehaltlich der vorgenannten Rechtsauffassung weist die FGW darauf hin, dass ein Nachprüfungsantrag nur zulässig ist, soweit 1. der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber der Vergabestelle innerhalb von spätestens 10 Tagen gerügt hat; 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber der Vergabestelle gerügt werden; 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, spätestens mit Ablauf der in den Vergabeunterlagen benannten Frist zur Abgabe erster indikativer Angebote gegenüber der Vergabestelle gerügt werden; 4. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens innerhalb von 15 Kalendertagen nach Eingang der Mitteilung der Vergabestelle, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, gestellt wird. Weitere Einzelheiten können § 160 GWB entnommen werden.