Beschaffung einer InGaAs-Kamera für Erweiterung EL-Messplatz (Los 1) und zusätzlich optische und mechanische Komponenten für Kameraintegration in EMMI-System (Los 2)
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2025-12-22.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2025-11-21.
Auftragsbekanntmachung (2025-11-21) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Los1) InGaAs-Kamera für Erweiterung EL-Messplatz
Los2) optische und mechanische Komponenten für Kameraintegration in EMMI-System
Referenznummer: E_2690_PR959505
Kurze Beschreibung:
“Beschaffung einer InGaAs-Kamera für Erweiterung EL-Messplatz (Los 1) und zusätzlich optische und mechanische Komponenten für Kameraintegration in EMMI-System (Los 2)”
Kurze Beschreibung
Beschaffung einer InGaAs-Kamera für Erweiterung EL-Messplatz (Los 1) und zusätzlich optische und mechanische Komponenten für Kameraintegration in EMMI-System (Los 2)
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Art des Vertrags: Lieferungen
Produkte/Dienstleistungen: Digitalkameras📦 Informationen über Lose
Dieser Vertrag ist in Lose unterteilt ✅
Höchstzahl der Lose, die an einen Bieter vergeben werden können: 2
Angebote können für eine maximale Anzahl von Losen eingereicht werden: 2
1️⃣
Beschreibung der Beschaffung:
“Das Fraunhofer IMWS hat mit dem DLR ein Emissionsmikroskop entwickelt, das momentan mit einer CCD-Kamera (Andor iKon-M934) mit Silizium-Chip ausgestattet...”
Beschreibung der Beschaffung
Das Fraunhofer IMWS hat mit dem DLR ein Emissionsmikroskop entwickelt, das momentan mit einer CCD-Kamera (Andor iKon-M934) mit Silizium-Chip ausgestattet ist. Dieser Sensor (Sensorgröße: 13,3 mm x 13,3 mm) weist eine spektrale Empfindlichkeit von ca. 400 nm bis ca. 1000 nm auf. Um den spektralen Bereich des Messsystems zu erweitern, sucht das Fraunhofer IMWS eine zusätzlichen Short-Wave-InfraRed-Kamera mit einer Empfindlichkeit im Kurzwellen-Infrarot-Bereich. Das bietet die Möglichkeit einer Erweiterung des messbaren Emissions-Spektrums und darüber hinaus auch Messungen durch hochdotierte Silizium-Substrate durchzuführen, wie sie bei Leistungselektronik-Bauteilen eingesetzt werden. Diese weisen bei entsprechenden Wellenlängen im SWIR-Spektralbereich eine höhere Transparenz aus.
Together with the DLR, the Fraunhofer IMWS has developed an emission microscope that is currently equipped with a CCD camera (Andor iKon-M_934) with a silicon chip. This sensor (sensor size: 13,3 mm x 13,3 mm) has a spectral sensitivity of approx. 400 nm to approximately 1000 nm. In order to extend the spectral range of the measuring system, the Fraunhofer IMWS is looking for an additional short-wave infrared camera with a sensitivity in the short-wave infrared range. This offers the possibility of extending the measurable emission spectrum and also of carrying out measurements through highly doped silicon substrates, such as those used in power electronics components. These have a higher transparency at corresponding wavelengths in the SWIR spectral range.
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Zusätzliche Informationen:
“#Besonders auch geeignet für:startup#,#Besonders auch geeignet für:other-sme#”
Ort der Leistung: Halle (Saale), Kreisfreie Stadt🏙️ Vergabekriterien
Preis ✅
Preis (Gewichtung): 35
Qualitätskriterium (Bezeichnung): technische Bewertung
Qualitätskriterium (Gewichtung): 65
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0001
2️⃣
Beschreibung der Beschaffung:
“Das Fraunhofer IMWS hat mit dem DLR ein Emissionsmikroskop entwickelt, das momentan mit einer CCD-Kamera (Andor iKon-M934) mit Silizium-Sensor ausgestattet...”
Beschreibung der Beschaffung
Das Fraunhofer IMWS hat mit dem DLR ein Emissionsmikroskop entwickelt, das momentan mit einer CCD-Kamera (Andor iKon-M934) mit Silizium-Sensor ausgestattet ist. Dieser Seonsor hat eine Größe von 13,3 mm x 13,3 mm. Dieser Messaufbau soll mit einer SWIR-Kamera mit C-MOUNT-Anschluss erweitert werden. Um diese Kamera in den optischen Aufbau intgrieren zu können werden folgende Komponenten zum Anschluss an den bereits existierenden optischen Aufbau, der auf Thorlabs-Komponeten basiert, benötigt.
The Fraunhofer IMWS has developed an emission microscope in collaboration with DLR, which is currently equipped with a CCD camera (Andor iKon-M934) with a Silicon sensor. This sensor measures 13.3 mm x 13.3 mm. This measurement setup is to be extended with a SWIR camera with a C-MOUNT connection. In order to integrate this camera into the optical setup, the following components are required for connection to the existing optical setup, which is currently based on Thorlabs components.
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Preis (Gewichtung): 100
Titel
Los-Identifikationsnummer: LOT-0002
Verfahren Art des Verfahrens
Offenes Verfahren ✅ Administrative Informationen
Frist für den Eingang von Angeboten oder Teilnahmeanträgen: 2025-12-22 12:00:00 📅
Bedingungen für die Öffnung der Angebote: 2025-12-22 13:01:00 📅
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Mindestzeitraum, in dem der Bieter das Angebot aufrechterhalten muss: 60
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Bedingungen für die Teilnahme
Liste und kurze Beschreibung der Regeln und Kriterien:
“Jahresumsatz der letzten 3 Geschäftsjahre”
Liste und kurze Beschreibung der Regeln und Kriterien:
“Darstellung von mindestens einem mit dem
Auftragsgegenstand nach Art und Umfang vergleichbaren Auftrag der
letzten drei Jahre”
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln:
“Beachten Sie, dass
Sie bei Teilnahme an diesem Verfahren die AEB, NHS sowie
Zahlungsbedingungen der FhG (beigefügt) anerkennen und verzichten...”
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln
Beachten Sie, dass
Sie bei Teilnahme an diesem Verfahren die AEB, NHS sowie
Zahlungsbedingungen der FhG (beigefügt) anerkennen und verzichten auf
anderslautende Klauseln in Ihren Angebotsunterlagen.
Öffentlicher Auftraggeber Name und Adressen
Name: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten
Forschung e.V. | IMWS
vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen
IMWS
Nationale Registrierungsnummer: 993-03005FHG-85
Postanschrift: Walter-Hülse-Straße 1
Postleitzahl: 06120
Postort: Halle (Saale)
Region: Halle (Saale), Kreisfreie Stadt🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: einkauf@imws.fraunhofer.de📧
Telefon: 000📞 Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
Haupttätigkeit
Allgemeine öffentliche Verwaltung
Kommunikation
Dokumente URL: https://www.evergabe-online.de/tenderdocuments.html?id=819008🌏
Teilnahme-URL: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=819008🌏
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammern des Bundes
Nationale Registrierungsnummer: t:022894990
Postanschrift: Kaiser-Friedrich-Straße 16
Postleitzahl: 53113
Postort: Bonn
Region: Bonn, Kreisfreie Stadt🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vk@bundeskartellamt.bund.de📧 Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Vergabekammern des Bundes
Nationale Registrierungsnummer: t:022894990
Postanschrift: Kaiser-Friedrich-Straße 16
Postleitzahl: 53113
Postort: Bonn
Region: Bonn, Kreisfreie Stadt🏙️
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: vk@bundeskartellamt.bund.de📧 Verfahren zur Überprüfung
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren:
“Vergabekammern des Bundes
§ 160 GWB Einleitung, Antrag
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.
(2) Antragsbefugt ist...”
Genaue Informationen über Fristen für Überprüfungsverfahren
Vergabekammern des Bundes
§ 160 GWB Einleitung, Antrag
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.
(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichenAuftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97
Absatz 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht.
Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der
Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht.
(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit
1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften
vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem
Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der
Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt,
2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung
erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung
benannten Frist (etwaige Vergabeverstöße muss der Bewerber/Bieter gemäß § 160
Abs. 3 Nr. 1 GWB innerhalb von 10 Tagen nach Kenntnisnahme rügen) zur
Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen
erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist (etwaige Verstöße gegen
Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, sind nach
§ 160 Abs. 3 Nr. 3 GWB spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbungs-oder Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber zu rügen) zur Bewerbung
oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer
Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des
Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2 GWB. § 134 Absatz 1 Satz 2 GWB
bleibt unberührt.
§ 134 GWB Informations- und Wartepflicht
https://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__134.html
§ 135 Unwirksamkeit
https://www.gesetze-im-internet.de/gwb/__135.html
Mehr anzeigen Informationen über elektronische Arbeitsabläufe
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Die elektronische Bestellung wird verwendet
Elektronische Zahlung wird verwendet
Quelle: OJS 2025/S 226-776808 (2025-11-21)