Rastersondenmikroskope

Universität Potsdam, Dezernat für Haushalt und Beschaffung

Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber: Optisches Nahfeldmikroskop. Ein optisches Nahfeldmikroskop (scanning optical near-field microscope, SNOM oder near field scanning optical microskope, NSOM) ist eine Rastermikroskop zur gleichzeitigen Untersuchung der Probentopographie und der optischen Eigenschaften einer lateralen Auflösung von unter 100 nm. Die Topographie der Probenfläche wird dabei wie im Rastermikroskop (atomic force microskope, AFM) aufgenommen. Zusätzlich kann durch die Messspitze (cantilever) Licht geleitet werden. Damit kann die Probe lokal (im Nahfeld) beleuchtet werden und die Transmission oder Reflektion des Lichtes mit Fernfeldmikroskopen erfasst werden. Durch Verwendung von Filtern oder Spektrographen kann auch die lokale Probenfluoreszenz untersucht werden. Der Lichtweg ist umkehrbar, eine Fernfeldbeleuchtung durch die Mikroskopobjektive und detektion durch die NOM-Spitze ist möglich. In Erweiterung dieser Methoden sollen mit dem zu beschaffenden SNOM optoelektronische Eigenschaften mit lokaler Beleuchtung untersucht werden.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2009-03-31. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2009-03-12.

Wer? Wie?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2009-03-09 Auftragsbekanntmachung
Auftragsbekanntmachung (2009-03-09)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rastersondenmikroskope
Volltext:
Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber: Optisches Nahfeldmikroskop. Ein optisches Nahfeldmikroskop (scanning optical near-field microscope, SNOM oder near field scanning optical microskope, NSOM) ist eine Rastermikroskop zur gleichzeitigen Untersuchung der Probentopographie und der optischen Eigenschaften einer lateralen Auflösung von unter 100 nm. Die Topographie der Probenfläche wird dabei wie im Rastermikroskop (atomic force microskope, AFM) aufgenommen. Zusätzlich kann durch die Messspitze (cantilever) Licht geleitet werden. Damit kann die Probe lokal (im Nahfeld) beleuchtet werden und die Transmission oder Reflektion des Lichtes mit Fernfeldmikroskopen erfasst werden. Durch Verwendung von Filtern oder Spektrographen kann auch die lokale Probenfluoreszenz untersucht werden. Der Lichtweg ist umkehrbar, eine Fernfeldbeleuchtung durch die Mikroskopobjektive und detektion durch die NOM-Spitze ist möglich. In Erweiterung dieser Methoden sollen mit dem zu beschaffenden SNOM optoelektronische Eigenschaften mit lokaler Beleuchtung untersucht werden.
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Ort der Leistung
de423 🏙️
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferauftrag
Verordnung: Europäische Gemeinschaften, mit GPA-Beteiligung
Originalsprache: Deutsch 🗣️

Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Angebotsart: Gesamtangebot
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Haupttätigkeit: Bildung

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Name des öffentlichen Auftraggebers: Universität Potsdam, Dezernat für Haushalt und Beschaffung
Land: Deutschland 🇩🇪
Kontakt
Internetadresse: www.uni-potsdam.de 🌏

Referenz
Daten
Veröffentlichungsdatum: 2009-03-12 📅
Empfangsdatum: 2009-03-09 📅
Absendedatum: 2009-03-09 📅
Einreichungsfrist: 2009-03-31 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer (Legacy): 71023-2009
ABl. S-Ausgabe: 49/2009
Verweist auf Bekanntmachung: 66194-2008

Objekt
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rastersondenmikroskope 📦
Quelle: OJS 2009/S 049-071023 (2009-03-09)
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