Beschaffungen: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Eine aktive Beschaffung
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik war in der Vergangenheit ein Käufer von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen.
Jüngste Beschaffungen durch IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
2026-09-28
Deadline 2026-10-29
Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers (IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik)
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as … Ansicht der Beschaffung »
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as … Ansicht der Beschaffung »
2026-07-29
Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers (IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik)
Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals. Ansicht der Beschaffung »
Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals. Ansicht der Beschaffung »