Beschaffungen: Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung
4 archivierte Beschaffungen
Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung war in der Vergangenheit ein Käufer von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), chemische Erzeugnisse und gase.
In der Vergangenheit waren die Lieferanten von Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung FEI Deutschland GmbH, Horiba Jobin Yvon GmbH, m2p-labs GmbH und TECAN Deutschland GmbH.
Jüngste Beschaffungen durch Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung
2024-05-02
Rahmenvereinbarung Gase / Gasgemische (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Rahmenvereinbarung über den Kauf und die Lieferung von Gasen und Gasgemischen Ansicht der Beschaffung »
Rahmenvereinbarung über den Kauf und die Lieferung von Gasen und Gasgemischen Ansicht der Beschaffung »
2019-03-01
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/2) (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/ 2) Ansicht der Beschaffung »
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/ 2) Ansicht der Beschaffung »
2018-05-11
Automatisierte Kultivierungs- und Aufarbeitungsplattform – Grundgerät (Los 1) – Kultivierungsmodul (Los 2) (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Beschaffung einer automatisierten Kultivierungs- und Aufarbeitungsplattform — Grundgerät (Los 1), — Kultivierungsmodul (Los 2) Ansicht der Beschaffung »
Beschaffung einer automatisierten Kultivierungs- und Aufarbeitungsplattform — Grundgerät (Los 1), — Kultivierungsmodul (Los 2) Ansicht der Beschaffung »
2018-01-17
Time-of-Flight-Massenspektrometer mit Plasma-Sputtern für die Tiefenprofilanalyse (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Time-of-Flight-Massenspektrometer mit Plasma-Sputtern für die Tiefenprofilanalyse. Ansicht der Beschaffung »
Time-of-Flight-Massenspektrometer mit Plasma-Sputtern für die Tiefenprofilanalyse. Ansicht der Beschaffung »