2011-05-03Lieferung einer Röntgenanlage (Technische Universität München - Physikdepartment E13 - Lehrstuhl für Funktionelle Materialien)
Auftragsgegenstand ist die:
— Herstellung, Lieferung, Montage und Inbetriebnahme einer Anlage für Röntgenklein- und –weitwinkelstreuung mit Punktkollimation,
— Lieferung, Installation und Konfiguration sowie Inbetriebnahme der für den Betrieb der Röntgenanlage erforderlichen PC-Hardware (Computer nebst Peripheriegeräten, wie etwa Bildschirm, Tastatur und Maus) inkl. Betriebssystem,
— Lieferung, Installation und Konfiguration sowie Inbetriebnahme der für den Betrieb der Röntgenanlage erforderlichen …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JJ X-Ray Systems ApS
2011-04-29Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (TU Bergakademie Freiberg, Abt. Zentrale Beschaffung)
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit variablen Druckeinstellungen in der Probenkammer zur Untersuchung von mikrostrukturellen Eigenschaften (kristallographische Orientierungsbeziehungen, Phasenidentifizierung) verschiedenster Werkstoffe (metallisch/nichtmetallisch), insbesondere nicht leitfähiger bzw. ausgasender Werkstoffe.
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2011-04-21Beschaffung eines Computertomographen (Hochschule München)
Für das Labor für Aufbau- und Verbindungstechnik der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik soll ein Computertomograph für die Analyse von elektronischen Bauelementen und Systemen beschafft werden. Das Gerät soll in der Lehre und der angewandten Forschung eingesetzt werden. In der Lehre sollen größere Baugruppen (Leiterplatten bis ca. 100 mm²) und Bauelemente (bis zu einigen mm³) mit sehr hoher Auflösung analysiert werden. Die Anlage sollte jedoch flexibel genug sein, dass auch Messaufgaben …
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2011-04-14Mikroskope (Friedrich-Loeffler-Institut)
Betrifft Los 1-3 und Los 5-6.
Lieferung und betriebsbereite Aufstellung von Mikroskopen entsprechend § 4 der Leistungsbeschreibung mit anschließender fachkundiger Einweisung in deutscher Sprache vor Ort durch einen qualifizierten Techniker und die Aushändigung einer deutschsprachigen Bedienungsanleitung für jedes Gerät (siehe hierzu auch Angaben zu den Losen).
Betrifft Los 4.
Lieferung von 30 Stück inversen Phasenkontrastmikroskopen (Umkehrmikroskop) mit anschließender Aufstellung, Vorführung und …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss MicoImaging GmbHCarl Zeiss MicroImaging GmbHNikon GmbH
2011-03-30Gelenkwellenprüfstände (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg)
Für die Weiterentwicklung von Verfahren und Materialien für Leichtbau-Gelenkwellen ist deren umfassender Lebensdauertest notwendig.
Ausgeschrieben werden die Konstruktion, der Bau und die Lieferung von 2 kompletten Prüfständen inklusive deren Hydraulikversorgung zur komplexen Simulation realitätsnaher Belastungsfälle.
Die Prüfstände sind in dem zeitgleich zu erstellenden Technikum zu installieren. Neben der Beachtung der räumlichen und bautechnischen Gegebenheiten legt der Auftraggeber großen Wert auf …
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2011-03-23Röntgenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Röntgenmikroskop, das zur Prozesskontrolle und zum Monitoring von (1) Bondverbindungen zwischen Chip und Verdrahtungsträgern (z. B. BGA, LGA, QFP, QFN), (2) Bondverbindungen zwischen Gehäuse und Leiterplatte sowie (3) Bondverbindungen zwischen gestapelten Chips im 3D Einzelstapel oder auf dem Trägerwafer eingesetzt werden soll.
Das Röntgenmikroskop soll folgende Funktionalitäten unterstützten:
— Probeninspektionsfläche: min. 350x350 mm,
— Probendrehung: 360°,
— Probenkippung: 0 – 70°,
— Optische …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Dage Deutschland GmbH
2011-03-21Multifunktionales hochauflösendes analytisches REM (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit großer Probenkammer incl. Schleuse und Plasmacleaner, FocusedIonBeam (FIB) + GIS, integriertem Mikrolabor und externem digitalem Lichtmikroskop. Das Mikrolabor enthält Probenheizung (bis +1400°C)/-kühlung (<-100°C) , Probenmanipulation mittels Nadel (u.a. Scratching), Härtemessung und Messung des elektrischen Widerstandes/Stromes.
Das REM enthält als Detektoren: EDX, SE, BSE, inlens SE, inlens BSE, CL und STEM. Zusätzlich ist eine …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Jena GmbH
2011-03-04Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD-Analyse-Systemen (Universität des Saarlandes)
Generelle Ausrichtung.
Das anzuschaffende Gerät wird durch die „Nutzergemeinschaft Rasterelektronenmikroskopie“ in der FR 8.4 Materialwissenschaft und Werkstofftechnik der Universität des Saarlandes gemeinsam benutzt und betrieben. Da jede der beteiligten Gruppen andere Schwerpunkte bearbeitet, muss das Gerät einen Kompromiss darstellen, der in allen wichtigen Bereichen die unter den gegebenen Voraussetzungen maximal möglichen Abbildungs- und Analysebedingungen weitestgehend kombiniert. Die wichtigsten …
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2011-01-28Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (Universität Leipzig)
Gefordert ist ein analytisches Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (TEM/STEM) zur Untersuchung von metallischen, halbleitenden und isolierenden Materialien für das Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung Leipzig. Mit dem TEM/STEM sollen Strukturen bis zur atomaren Auflösung abgebildet werden. Beide Modi, TEM und STEM müssen möglich sein und zwischen beiden Betriebsmodi muss gewechselt werden können. Das Elektronenmikroskop muss ein analytisches Elektronenmikroskop sein und damit …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH