2011-03-23Röntgenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Röntgenmikroskop, das zur Prozesskontrolle und zum Monitoring von (1) Bondverbindungen zwischen Chip und Verdrahtungsträgern (z. B. BGA, LGA, QFP, QFN), (2) Bondverbindungen zwischen Gehäuse und Leiterplatte sowie (3) Bondverbindungen zwischen gestapelten Chips im 3D Einzelstapel oder auf dem Trägerwafer eingesetzt werden soll.
Das Röntgenmikroskop soll folgende Funktionalitäten unterstützten:
— Probeninspektionsfläche: min. 350x350 mm,
— Probendrehung: 360°,
— Probenkippung: 0 – 70°,
— Optische …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Dage Deutschland GmbH
2011-03-21Multifunktionales hochauflösendes analytisches REM (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit großer Probenkammer incl. Schleuse und Plasmacleaner, FocusedIonBeam (FIB) + GIS, integriertem Mikrolabor und externem digitalem Lichtmikroskop. Das Mikrolabor enthält Probenheizung (bis +1400°C)/-kühlung (<-100°C) , Probenmanipulation mittels Nadel (u.a. Scratching), Härtemessung und Messung des elektrischen Widerstandes/Stromes.
Das REM enthält als Detektoren: EDX, SE, BSE, inlens SE, inlens BSE, CL und STEM. Zusätzlich ist eine …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Carl Zeiss Jena GmbH
2011-03-04Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD-Analyse-Systemen (Universität des Saarlandes)
Generelle Ausrichtung.
Das anzuschaffende Gerät wird durch die „Nutzergemeinschaft Rasterelektronenmikroskopie“ in der FR 8.4 Materialwissenschaft und Werkstofftechnik der Universität des Saarlandes gemeinsam benutzt und betrieben. Da jede der beteiligten Gruppen andere Schwerpunkte bearbeitet, muss das Gerät einen Kompromiss darstellen, der in allen wichtigen Bereichen die unter den gegebenen Voraussetzungen maximal möglichen Abbildungs- und Analysebedingungen weitestgehend kombiniert. Die wichtigsten …
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2011-01-28Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (Universität Leipzig)
Gefordert ist ein analytisches Transmissions-Rastertransmissionselektronenmikroskop (TEM/STEM) zur Untersuchung von metallischen, halbleitenden und isolierenden Materialien für das Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung Leipzig. Mit dem TEM/STEM sollen Strukturen bis zur atomaren Auflösung abgebildet werden. Beide Modi, TEM und STEM müssen möglich sein und zwischen beiden Betriebsmodi muss gewechselt werden können. Das Elektronenmikroskop muss ein analytisches Elektronenmikroskop sein und damit …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:FEI Deutschland GmbH