2012-05-11Rasterelektronenmikroskop (Fachhochschule Schmalkalden)
Für die elektronenoptische Untersuchung von Metallen, Keramiken und Kunststoffen wird ein Rasterelektronenmikroskop benötigt, welches sowohl im Hochvakuumbereich bei Auflösungen unter 4nm arbeiten kann (z.B. für die Darstellung nanostrukturierter Oberflächenschichten), als auch bei Niedrigvakuumbedingungen, um empfindliche bzw. nicht beschichtbare Kunststoffe oder Keramiken untersuchen zu können. Vor allem für die Partikelselektierung wird ein BSE-Detektor benötigt, der parallel zur EDX-Analyse betrieben …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Axon Machine Vision GmbH & Co. KG