Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Bruker AXS S.A.S. erwähnt wird
2014-10-23Schnellscannendes AFM/Rasterkraftmikroskop (Universität Bremen)
Rasterkraftmikroskop zur Analyse schneller Oberflächenreaktionskinetik an komplexen großformatigen Proben. Konsequenz sind erhöhte Anforderungen an Gesichtsfeld und Probenkammer. Die Eigenschaften der zu analysierenden Proben fordern verbesserte Kraftkontrolle im Vergleich zu herkömmlichen AFM-Modi, höchste Anforderungen an Ortsauflösung, Drift der Abbildungskraft und Konsistenz der Bildqualität.
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker AXS S.A.S.
2014-01-31Inertgas-Rastersondenmikroskop (Technische Universität Ilmenau, Dezernat Planung und Haushalt, SG Beschaffung)
Es wird ein Rastersondenmikroskop zur Untersuchung von elektrochemischen Phasengrenzen und Oberflächen mit hoher Ortsauflösung in inerter Argonatmosphäre (<1 ppm Sauerstoff und Wasser) benötigt.
Folgende Messtechniken müssen zwingend vorhanden sein:
— Atomic force microscopy (AFM) im contact und tapping mode;
— Conductive AFM;
— Kraft-Abstands-Kurven und colloidal probe spectroscopy;
— Magnetic force microscopy (MFM).
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:Bruker AXS S.A.S.