Anbieter: BSW TestSystems&Consulting AG
4 archivierte Beschaffungen
BSW TestSystems&Consulting AG war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und industrielle Maschinen.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter BSW TestSystems&Consulting AG erwähnt wird
2017-05-17
Hochvolt-Degradations-Messsystem (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe)
Am Fraunhofer IIS/EAS werden integrierte Schaltungen (ICs), Baugruppen und Systeme entwickelt und getestet. Der Zuverlässigkeit dieser Produkte kommt dabei eine immer größere Bedeutung zu. Aus diesem Grund ist die Evaluierung und Modellierung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen ein wesentlicher Gegenstand unserer Arbeiten. Um die Zuverlässigkeit eines ICs bereits im Entwurfsprozess zu gewährleisten, werden am Fraunhofer IIS/EAS Alterungsmodelle für Transistoren entwickelt. Fortsetzung in II.2.4. Ansicht der Beschaffung »
Am Fraunhofer IIS/EAS werden integrierte Schaltungen (ICs), Baugruppen und Systeme entwickelt und getestet. Der Zuverlässigkeit dieser Produkte kommt dabei eine immer größere Bedeutung zu. Aus diesem Grund ist die Evaluierung und Modellierung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen ein wesentlicher Gegenstand unserer Arbeiten. Um die Zuverlässigkeit eines ICs bereits im Entwurfsprozess zu gewährleisten, werden am Fraunhofer IIS/EAS Alterungsmodelle für Transistoren entwickelt. Fortsetzung in II.2.4. Ansicht der Beschaffung »
2017-04-26
Aktives Load-Pull Leistungsmess-System (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe)
Zur Charakterisierung von Leistungsbauelementen wird ein Leistungsmess-System benötigt, das die Grund- und Oberwellen bis 40 GHz über aktive Lasten abstimmen kann („Active Load Pull“). Dabei soll die Grundwelle und zwei harmonische Wellen bis zu einer Leistung von min. 100 W auf einem vorhandenen Wafer-Prober auf prozessierten Wafern analysiert werden können. Ansicht der Beschaffung »
Zur Charakterisierung von Leistungsbauelementen wird ein Leistungsmess-System benötigt, das die Grund- und Oberwellen bis 40 GHz über aktive Lasten abstimmen kann („Active Load Pull“). Dabei soll die Grundwelle und zwei harmonische Wellen bis zu einer Leistung von min. 100 W auf einem vorhandenen Wafer-Prober auf prozessierten Wafern analysiert werden können. Ansicht der Beschaffung »
2016-04-14
E_848_219436 cl-bla – Parameter-Testsystem (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Kurzspezifikation Parametertester Parametrisches Testsystem mit mindestens 48 Kanälen (Kelvinmessung 2x 24 Kanälen), 19“ Schrank mit separaten Messgeräten Messinstrumente: — Schaltmatrix in triaxiale Ausführung der Anschlüsse und Kanäle für geringste Leckströme, — High Precision Source-Measurement-Unit (SMU) mit 2 Kanälen, — Medium-Power SMU mit 2 Kanälen, — High-Power SMU mit 2 Kanälen, — SMUs müssen für statische und gepulste Messungen geeignet sein, — C/V-Messgerät in Kombination mit den SMU‘s, — … Ansicht der Beschaffung »
Kurzspezifikation Parametertester Parametrisches Testsystem mit mindestens 48 Kanälen (Kelvinmessung 2x 24 Kanälen), 19“ Schrank mit separaten Messgeräten Messinstrumente: — Schaltmatrix in triaxiale Ausführung der Anschlüsse und Kanäle für geringste Leckströme, — High Precision Source-Measurement-Unit (SMU) mit 2 Kanälen, — Medium-Power SMU mit 2 Kanälen, — High-Power SMU mit 2 Kanälen, — SMUs müssen für statische und gepulste Messungen geeignet sein, — C/V-Messgerät in Kombination mit den SMU‘s, — … Ansicht der Beschaffung »
2012-08-02
Active nonlinear load pull system (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Active nonlinear load pull system 0,4 bis 26GhHz, 4 Loops. Harmonic Phase Reference für NVNA Messungen bis 18GHz. Ansicht der Beschaffung »
Active nonlinear load pull system 0,4 bis 26GhHz, 4 Loops. Harmonic Phase Reference für NVNA Messungen bis 18GHz. Ansicht der Beschaffung »