Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter EO Elektronen-Optik-Service GmbH erwähnt wird
2013-12-02Rasterelektronenmikroskop (Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM))
Rasterelektronenmikroskop zur:
— Untersuchung metallischer und keramischer Werkstoffe, Schichtsysteme, evtl. Polymere,
— Schadensanalyse (v. a. Fraktographie) unter anderem für Prüfaufträge und Gerichtsgutachten,
— Qualitätssicherung (z. B. Werkstoff- und Gefügecharakterisierung von Gefahrgut-Behältern),
— Phasencharakterisierung von Betonen,
— Bereitstellung für Service- und Dienstleistungen im Multiuser-Betrieb (ein Administrator, mehrere Operateure)
gemäß anzufordernder Vergabeunterlagen unter der …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:EO Elektronen-Optik-Service GmbH