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2013-04-30   Transmissionselektronenmikroskop und Ultra-Mikrotom (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Es soll ein Standard-Transmissionselektronenmikroskop sowie ein Ultra-Mikrotom beschafft werden, geeignet zur Untersuchung von mehrphasigen Polymermaterialien Ansicht der Beschaffung »
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2012-11-20   „Rasterelektronenmikroskop (REM)“ AZ 225013/12 (Technische Universität Dresden)
Das im Offenen Verfahren ausgeschriebene Rasterelektronenmikroskop (REM) soll in der Arbeitsgruppe von Prof. Wolf-Joachim Fischer, Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik an der TU Dresden eingesetzt werden. Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines geeigneten und leistungsstarken REM-Systems mit EDX-Zusatz und zusätzlichem Niedervakuumbetrieb, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Weitere … Ansicht der Beschaffung »
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2012-06-14   1 Ultra-hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop und 1 Hochauflösendes analytisches... (Fraunhofer Gesellschaft e.V.)
Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen Arbeiten mit den analytischen Rasterelektronenmikroskopen sind: — hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung unterschiedlichster Werkstoffe, überwiegend Metalle, aber auch Kunststoffe und andere nichtleitende Materialien, — Erforschung des strukturellen Aufbaus von Nanomaterialien, Verbundwerkstoffen mit Nanopartikeln und Dünnschichtsystemen, — schnelle und genaue Bestimmung der lokalen chemischen Zusammensetzung von Phasen, … Ansicht der Beschaffung »
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2011-05-12   Beschaffung von 3 aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskopen (Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. - administrativ verantwortlich: Gemeinsame Verwaltung der Max-Plan)
Beschaffung von 3 aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskopen. Los 1: Transmissionselektronenmikroskop mit Aberrationskorrektor im Beleuchtungssystem, Los 2: Transmissionselektronenmikroskop mit Aberrationskorrektor im Abbildungssystem, Los 3: Transmissionselektronenmikroskop mit aberrationskorrigierten Kondensor- und Objektivlinsen. Ansicht der Beschaffung »
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