Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter JEOL erwähnt wird
2012-09-17In-Line Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft e. V.)
Im Bereich Forschung und Entwicklung von mikroelektronischen und leistungselektronischen Bauelementen, der Sensor und MEMS Technologie ist die mikrostrukturelle Untersuchung und Charakterisierung von 3D-Strukturen wie Gräben und Spitzen, von dünnen Schichten und von kritischen Abmessungen in der Fotolithographie und Ätztechnik auf Probenstücken bis hin zu.
Siliciumscheiben mit 200 mm Durchmesser von größter Bedeutung. Die geeignetste und am weitesten verbreitete Methode hierfür ist …
Ansicht der Beschaffung » Erwähnte Lieferanten:JEOL