2023-04-18Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) Gerät (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) Gerät für die Nanopartikelgrößen-Analyse basierend auf NTA (nanoparticle tracking analysis, svw. Nanopartikel-Bewegungsanalyse) -Technologie anzuschaffen. Das System soll, basierend auf Lichtstreuung und der Brown'schen Molekularbewegung von Nanopartikeln, deren Größe, Größenverteilung und Kon-zentration bestimmen. Das Hauptanwendungsfeld liegt bei der Charakterisierung von plasmonischen Nanopartikeln, jedoch …
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2019-10-02Röntgendiffraktometer (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
The aim of the announced multipurpose x-ray diffractometer is the structural analysis of semiconductors and thin films. The device needs to measure high resolution rocking curves (Omega-2Theta-scans) and reciprocal space maps of various semiconductor mate-rials where the focus lies on throughput. Additionally, x-ray reflectivity measurements must be possible to determine the layer thicknesses of thin film samples. Switching between the measurements need to be quick and reproducible without time-consuming …
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