Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit variablen Druckeinstellungen in der Probenkammer zur Untersuchung von mikrostrukturellen Eigenschaften (kristallographische Orientierungsbeziehungen, Phasenidentifizierung) verschiedenster Werkstoffe (metallisch/nichtmetallisch), insbesondere nicht leitfähiger bzw. ausgasender Werkstoffe.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-06-28.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-04-29.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2011-04-29
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Auftragsbekanntmachung
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| 2011-06-10
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Ergänzende Angaben
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