Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Das Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) soll im Helmholtz Zentrum für Infektionsforschung (HZI) zur Abbildung von biologischen Proben geeignet sein. Als Proben kommen Viren, Bakterien, Zelllinien, isolierte Zellen des Immunsystems und Gewebe in Betracht. Das Gerät soll zusätzlich zur Analytik mittels energie- dispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) in der Lage sein, d.h. einen genügend hohen Strahlstrom zu Verfügung stellen, um hochauflösende Analytik durchführen zu können. Gleichzeitig muss die Adaptation eines schon vorhandenen Cryo-Transfersystems an das Gerät möglich sein, um weiterhin Cryo-FESEM Arbeiten durchzuführen. In den abbildenden Eigenschaften soll das Gerät zur hohen Auflösung befähigt sein und diese durch In-Lens SE-Detektoren und hocheffiziente Everhart-Thornley SE-Detektoren umsetzen. Besonderer Wert wird auf die Abbildungseigenschaften des Gerätes bezüglich von Goldpartikel (5- 20 nm im Durchmesser) mittels rückgestreuter Elektronen (BSE) gelegt, da die Immunmarkierung mittels Antikörpern und Gold-Nanopartikeln (Immun-FESEM) ein hauptsächlicher Bestandteil der Arbeiten am HZI ausmacht. Diese Abbildungseigenschaften sollten auch schon bei kleineren Vergrößerungen unter 10000fach vorhanden sein. Von besonderem Interesse sind auch hochauflösende Abbildungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, um die biologischen Präparate zu schonen. Wichtig ist die Darstellung aller Detektoren in einem simultan Modus, um alle Bildinformationen der verschiedenen Detektoren vergleichend beurteilen zu können. Da häufig auch aufgebrochene Gewebeproben untersucht werden, die eine große topographische Variabilität aufweisen, wäre ein Aufladungskompensationssystem erforderlich. Da das Gerät in eine Imaging Facility eingebunden ist, sollte auch eine korrelative Mikroskopie mittels Hard- und Software ermöglicht werden, um einen Vergleich der Aufnahmen der Konfokalen Mikroskope mit hochaufgelösten elektronenmikroskopischen Bildern an einem Präparat zu ermöglichen. Hierfür ist ein STEM-Detektor im FESEM Voraussetzung, um Ultradünnschnitte im FESEM zu betrachten.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-08-25.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-07-19.
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Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2011-07-19
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Auftragsbekanntmachung
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