Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD-Analyse-Systemen
Generelle Ausrichtung.
Das anzuschaffende Gerät wird durch die „Nutzergemeinschaft Rasterelektronenmikroskopie“ in der FR 8.4 Materialwissenschaft und Werkstofftechnik der Universität des Saarlandes gemeinsam benutzt und betrieben. Da jede der beteiligten Gruppen andere Schwerpunkte bearbeitet, muss das Gerät einen Kompromiss darstellen, der in allen wichtigen Bereichen die unter den gegebenen Voraussetzungen maximal möglichen Abbildungs- und Analysebedingungen weitestgehend kombiniert. Die wichtigsten Punkte sind hierbei:
— Hochauflösende Abbildungen im SE und RE-Kontrast, auch unter In-Situ Experimentierbedingungen (Arbeitsabstände > 15 mm),
— Flexible Einbaumöglichkeiten vorhandene In-Situ Belastungs- und Heiz- / Kühl-einrichtungen,
— Abbildung von Polymere und weiteren sich aufladenden Proben ohne Beschichtung (NV-Mode),
— Optimale Electon Chaneling-Abbildungen im RE-Kontrast,
— Hochauflösende EBSD-Messungen.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-04-29.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-03-04.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2011-03-04
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Auftragsbekanntmachung
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