Multifunktionales hochauflösendes analytisches REM
Analytisches hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit großer Probenkammer incl. Schleuse und Plasmacleaner, FocusedIonBeam (FIB) + GIS, integriertem Mikrolabor und externem digitalem Lichtmikroskop. Das Mikrolabor enthält Probenheizung (bis +1400°C)/-kühlung (<-100°C) , Probenmanipulation mittels Nadel (u.a. Scratching), Härtemessung und Messung des elektrischen Widerstandes/Stromes.
Das REM enthält als Detektoren: EDX, SE, BSE, inlens SE, inlens BSE, CL und STEM. Zusätzlich ist eine in-situ-Ladungskompensation vorhanden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-05-12.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-03-21.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2011-03-21
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Auftragsbekanntmachung
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| 2011-08-02
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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