Zweistrahlmikroskop (kombiniertes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl: FE-SEM + FIB
Zweistrahlmikroskop (kombiniertes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl: FE-SEM + FIB).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2011-05-10.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2011-03-11.
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2011-03-11
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Auftragsbekanntmachung
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