1 Ultra-hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop und 1 Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop

Fraunhofer Gesellschaft e.V.

Aktuelle und zukünftige Schwerpunkte der vorgesehenen Arbeiten mit den analytischen Rasterelektronenmikroskopen sind:
— hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung unterschiedlichster Werkstoffe, überwiegend Metalle, aber auch Kunststoffe und andere nichtleitende Materialien,
— Erforschung des strukturellen Aufbaus von Nanomaterialien, Verbundwerkstoffen mit Nanopartikeln und Dünnschichtsystemen,
— schnelle und genaue Bestimmung der lokalen chemischen Zusammensetzung von Phasen, Ausscheidungen und anderen Gefügebestandteilen.
Insbesondere auch für leichte Elemente wie z. B. Beryllium, Bor, Kohlenstoff, Stickstoff und Sauerstoff.
Bei den beiden Geräten soll es sich um ein Ultra- hochauflösendes analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (REM 1) mit:
— thermischer Feldemissionskathode („Schottky- Emitter“),
— Detektorsystemen für höchste Auflösungen bei Abbildungen mit Sekundär- und Rückstreuelektronen, auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen,
— vollständig ölfreiem Vakuumsystem und,
— kombiniertem, leistungsfähigen EDX- und WDX- Analysesystem und ein Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop (REM 2) mit,
— thermischer Kathode (LaB6 oder Wolfram),
— großem vollmotorisierten Probentisch zur Bewegung großer und schwerer Proben,
— Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor und,
— leistungsfähigem EDX-Analysesystem handeln.
Nebenangebote für die Ausstattung mit der EDX- und WDX- Analytik sind zuzulassen.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-08-06. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-06-14.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• • JEOL (Germany) GmbH

Wer?

• • Fraunhofer Gesellschaft e.V.

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope