Dual Beam Workstation
Dual Beam Workstation - bestehend aus Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (FESEM) und Focused Ion Beam-Mkroskop (FIB).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-03-30.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-02-23.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2012-02-23
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Auftragsbekanntmachung
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| 2013-11-12
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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