FEG-Rasterelektronenmikroskop
Ausgeschrieben ist ein digitales, höchstauflösendes FEG-Rasterelektronenmikroskop mit Focused Ion Beam Zusatz und Gas lnjection System.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-03-30.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-02-06.
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
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Dokument |
| 2012-02-06
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Auftragsbekanntmachung
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