Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissions-Kathode
REM zur Analyse und Charakterisierung von Nanopartikeln, Polymer-Nanokompositen, Nano- und Mikrostrukturen eingesetzt werden. Es soll verschiedene leitende Materialien und Materialkombinationen (Metalle, Legierungen, ...) hochauflösend und mit gutem Kontrast abbilden können, desweiteren hochauflösende Untersuchungen der Morphologie von Nanopartikeln ermöglichen.
Es können auch Gebraucht- oder Vorführgeräte angeboten werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2012-06-29.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2012-05-08.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2012-05-08
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Auftragsbekanntmachung
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| 2012-10-02
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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