Feldemissionsrasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD Detektor

Hochschule Landshut

Die Hochschule für angewandte Wissenschaften Landshut möchte ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop anschaffen, das hochauflösende Abbildungen verschiedener Werkstoffsysteme erlauben muss und zusätzlich über einen EDX und einen EBSD Detektor verfügt.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-09-16. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-08-12.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

Wer? Wie? Wo?
Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2013-08-12 Auftragsbekanntmachung
2013-11-27 Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Auftragsbekanntmachung (2013-08-12)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Menge oder Umfang: Feldemissionsrasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD Detektor.450 000650 000
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Beschleunigtes nicht offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Name des öffentlichen Auftraggebers: Hochschule Landshut
Postanschrift: Am Lurzenhof 1
Postleitzahl: 84036
Postort: Landshut
Kontakt
Internetadresse: http://www.haw-landshut.de 🌏
E-Mail: monika.kollmeder@haw-landshut.de 📧
Telefon: +49 871506104 📞
Fax: +49 871506506 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2013-08-12 📅
Einreichungsfrist: 2013-09-16 📅
Veröffentlichungsdatum: 2013-08-16 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2013/S 158-275576
ABl. S-Ausgabe: 158

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Die Hochschule für angewandte Wissenschaften Landshut möchte ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop anschaffen, das hochauflösende Abbildungen verschiedener Werkstoffsysteme erlauben muss und zusätzlich über einen EDX und einen EBSD Detektor verfügt.
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Menge oder Umfang: Feldemissionsrasterelektronenmikroskop mit EDX und EBSD Detektor.
Geschätzter Wert ohne MwSt: 450 000 💰
650 000 💰
Beschreibung der Optionen: Garantieverlängerung, größere Detektorfläche von EDX Detektor, Plasmacleaner.
Referenznummer: K - 5200323 - 1/2013
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort:
Hochschule Landshut;
Am Lurzenhof 1;
84036 Landshut.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Bedingungen für die Teilnahme
Befähigung zur Berufsausübung:
Eigenerklärung gemäß VOL/A für nicht präqualifizierte Unternehmen zur Eignung einzureichen (§ 6 EG und § 7 EG).
Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit:
Eigenerklärung gemäß VOL/A für nicht präqualifizierte Unternehmen zur Eignung einzureichen (§ 6 EG und § 7 EG).
Technische und berufliche Fähigkeiten:
Aktuelle Referenzliste über vergleichbare Aufträge mit der Angabe von Auftraggeber und Ansprechpartner mit Telefonnummer.
Auftragsausführung
Geforderte Kautionen und Garantien: Bankbürgschaft über Anzahlungsbetrag.
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln: geregelt nach VOL/B.
Rechtsform der Gruppe von Wirtschaftsteilnehmern, an die der Auftrag vergeben werden soll:
Bietergemeinschaften haften Gesamtschuldnerisch und benennen einen bevollmächtigten Vertreter.

Verfahren
Begründung des beschleunigten Verfahrens:
Das Verfahren zur Beschaffung des Feldemissionsrasterelektronenmikroskops läuft bereits seit Mai 2012. Hier wurde ein Großgeräteantrag gemäß Art. 91b GG bei der Deutschen Forschungsgemeinschaft gestellt. Das nicht offene Verfahren wurde nach dieser Genehmigung vorbereitet. Bei dem Feldemissionsrasterelektronenmikroskops mit EDX und EBSD Detektor handelt es sich um ein spezielles Analysegerät aus dem Bereich der Werkstoffanalytik, das für die Bearbeitung konkreter Forschungsprojekte an der Hochschule Landshut angeschafft werden soll. Zu diesem Zweck muss das Gerät hinsichtlich der Geräteeigenschaften eine außergewöhnliche Eignung, wie beispielsweise eine sehr hohe Auflösung und Strahlstabilität bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, aufweisen, die nur von einem eingeschränkten Kreis an Herstellern in geeigneter Weise angeboten wird. Vor der Veröffentlichung wurde nun allerdings bei dem verhandenen Rasterelektronenmikroskop ein nicht reparierbarer Defekt (Bestätigung liegt vor) festgestellt. Da bereits u.a. für dieses Gerät verschiedene Forschungsaufträge am Laufen sind, wurde nun das beschleunigte Verfahren um Zeit und Kosten zu sparen, gewählt.
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Voraussichtliche Anzahl von Bewerbern: 5
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technische Kriterien: - Beste Erfüllng der genannten "soll" Kriterien wird höher bewertet (max. 12 Punkte) - Bessere Bedienbarkeit des Gerätes wird höher bewertet (max. 4 Punkte) - Umfang und Verständlichkeit der Steuersoftware wird höher bewertet (max. 2 Punkte) (45)
2. Preis (max. 12 Punkte) (30)
3. weitere Zuschlagskriterien: - Serviceleistungen (max. 4 Punkte) - flexiblere Erweiterungsmöglichkeiten des Gerätes und der Software (max. 3 Punkte) - Qualität (max. 3 Punkte) (25)
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Kontakt
Kontaktperson: Service Finanzen
Frau Monika Kollmeder

Referenz
Daten
Datum des Beginns: 2013-10-01 📅
Datum des Endes: 2014-02-28 📅
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: K - 5200323 - 1/2013

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Regierung von Oberbayern - Vergabekammer Südbayern
Postanschrift: Maximilianstraße 39
Postort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Nach § 107 Abs. 3 Satz 1 Ziff. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkung (GWB) ist ein Nachprüfungsantrag unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
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Quelle: OJS 2013/S 158-275576 (2013-08-12)
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2013-11-27)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Gesamtwert des Auftrags: 518 721 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2013-11-27 📅
Veröffentlichungsdatum: 2013-11-28 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2013/S 231-400841
Verweist auf Bekanntmachung: 2013/S 158-275576
ABl. S-Ausgabe: 231

Objekt
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort:
Hochschule Landshut
Am Lurzenhof 1
84036 Landshut

Verfahren
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technische Kriterien: – Beste Erfüllung der genannten „soll“ Kriterien wird höher bewertet (max. 12 Punkte) – Bessere Bedienbarkeit des Gerätes wird höher bewertet (max. 4 Punkte) – Umfang und Verständlichkeit der Steuersoftware wird höher bewertet (max. 2 Punkte) (45)
3. Weitere Zuschlagskriterien: – Serviceleistungen (max. 4 Punkte) – Flexiblere Erweiterungsmöglichkeiten des Gerätes und der Software (max. 3 Punkte) – Qualität (max. 3 Punkte) (25)

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2013-09-17 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postanschrift: Carl-Zeiss-Straße 22
Postort: Oberkochen
Postleitzahl: 73447
Land: Deutschland 🇩🇪
E-Mail: microscopy@zeiss.com 📧
Internetadresse: www.zeiss.com/microscopy 🌏
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 4

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Name: Regierung von Oberbayern – Vergabekammer Südbayern
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Nach § 107 Abs. 3 Satz 1 Ziff. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkung (GWB) ist ein Nachprüfungsantrag unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Quelle: OJS 2013/S 231-400841 (2013-11-27)