Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam

Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Kombiniertes Rasterelektronenmikroskop mit Focussed Ion Beam
Es soll ein kombiniertes Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Focussed Ion Beam (FIB) beschafft werden. Dies wird im folgenden REM/FIB-Gerät genannt.
Es handelt sich dabei um ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, welches zusätzlich zur In-Situ Präparation eine fokussierte Ionenquelle besitzt, mit der sich lokal Material von einer Probe abtragen lässt. Das Gerät dient dazu unter REM-Kontrolle einzelne Querschnitte, Serien von Querschnitten oder dünnen TEM-Lamellen von einer Probe zu präparieren, die anschließend im selben Gerät mittels REM, EDX, STEM und anderen Verfahren analysieren werden können. Außerdem können Oberflächen durch Materialauf- oder Materialabtrag auf der Nanometerskala strukturiert werden.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-09-13. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-07-31.

Wer?

• • Fraunhofer Gesellschaft e. V.

Wie?

• • Elektronenmikroskope › Rasterelektronenmikroskope

Wo?

• • Braunschweig › Braunschweig, Kreisfreie Stadt