Lieferung und Installation eines Rastersondenmikroskops mit hoher (atomarer) Auflösung
Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines Rastersondenmikroskops (engl.: scanning probe microscope = SPM) zur hoch aufgelösten Bestimmung von strukturellen sowie von spezifischen biologischen, chemischen und physikalischen Eigenschaften (Materialkontrast) von Oberflächen und Oberflächenbeschichtungen. Neben statischen Messungen soll das Gerät die zeitaufgelöste Untersuchung von kinetischen Oberflächenprozessen sowie von morphologischen Veränderungen von immobilisierten Molekülen und Schichten an Luft und in Flüssigkeiten erlauben. Das Gerät soll eine atomare Auflösung an Festkörperoberflächen sowie eine Auflösung kleiner/gleich 2 nm bei biologischen und polymeren Proben gewährleisten. Damit stehen höchste Anforderungen an die Unterdrückung von mechanischen, akustischen und elektromagnetischen Schwingungseinträgen sowie von thermischen und anderen gerätebedingten Driften. Neben Untersuchungen an „weicher Materie“ (immobilisierte Biomoleküle und Polymere sowie von Hybridstrukturen) soll das SPM das hoch aufgelöste Studium elektrochemischer Prozesse an Oberflächen erlauben.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-02-14.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-12-30.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2013-12-30
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Auftragsbekanntmachung
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| 2014-04-01
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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