Beschaffungen: Ionen- und Molekularmikroskope
>20 archivierte Beschaffungen
Ionen- und Molekularmikroskope wurden von Organisationen wie den folgenden erworben Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13), Forschungsverbund Berlin e.V. und Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe.
In der Vergangenheit waren die Anbieter in diesem Bereich FEI Deutschland GmbH, Elektronen-Optik-Service GmbH, Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl-Zeiss Microscopy GmbH, EO Elektronen-Optik-Service, Femto Tools, Oxford Instruments GmbH, TESCAN GmbH und Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH.
- Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)
- Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (12)
- Mikroskope (4)
- Ionen- und Molekularmikroskope ⬅️
Die jüngsten Beschaffungen von ionen- und Molekularmikroskope in Deutschland
2023-09-22
V22 PL Imaging System (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH (HZB))
Es soll ein Charakterisierungstool angeschafft werden, das eine hochauflösende Photolumineszenz-Abbildung (PL Imaging) von Solarzellen, insbesondere den Teilzellen in monolithischen Tandem-Solarzellen mit Abmessungen von bis zu 210 mm × 210 mm ermöglicht. Dieses Charakterisierungstool, das für die Entwicklung und Skalierung von hocheffizienten Tandem-Solarzellen benötigt wird, soll die folgenden Funktionalitäten besitzen: 1- Das Gerät wird für die Lumineszenzabbildung verschiedener photovoltaischer Ein- … Ansicht der Beschaffung »
Es soll ein Charakterisierungstool angeschafft werden, das eine hochauflösende Photolumineszenz-Abbildung (PL Imaging) von Solarzellen, insbesondere den Teilzellen in monolithischen Tandem-Solarzellen mit Abmessungen von bis zu 210 mm × 210 mm ermöglicht. Dieses Charakterisierungstool, das für die Entwicklung und Skalierung von hocheffizienten Tandem-Solarzellen benötigt wird, soll die folgenden Funktionalitäten besitzen: 1- Das Gerät wird für die Lumineszenzabbildung verschiedener photovoltaischer Ein- … Ansicht der Beschaffung »
2023-06-26
OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) (Forschungsverbund Berlin e.V.)
Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und … Ansicht der Beschaffung »
Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und … Ansicht der Beschaffung »
2022-03-04
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage Ansicht der Beschaffung »
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage Ansicht der Beschaffung »
2021-12-20
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Philipps-Universität Marburg)
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
2021-11-02
Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (Universität der Bundeswehr München)
Auftragsgegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) sowie zugehörige Service- und Schulungsleistungen. Ansicht der Beschaffung »
Auftragsgegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) sowie zugehörige Service- und Schulungsleistungen. Ansicht der Beschaffung »
2021-07-28
Focus-Ion-Beam-System (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.)
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
2021-04-23
Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
2020-04-21
142 — Hochauflösendes Mikroskop mit SMLM und mSIM (RWTH Aachen University)
Hochauflösendes Mikroskop mit SMLM und mSIM. Ansicht der Beschaffung »
Hochauflösendes Mikroskop mit SMLM und mSIM. Ansicht der Beschaffung »
2020-01-30
FIB-REM mit LHe-Kryotisch (Los 1) (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
2019-10-18
Ring TIRF FRAP Einzelmolekül Mikroskop (Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung)
Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe eines Ring TIRF FRAP Einzelmolekül Mikroskops. Ansicht der Beschaffung »
Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe eines Ring TIRF FRAP Einzelmolekül Mikroskops. Ansicht der Beschaffung »
2019-07-05
Elektronen-Ionen-Mikroskop (FIB/SEM) (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
2019-03-01
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/2) (Technische Universität Braunschweig - Abteilung 22 Vergaberecht und Beschaffung)
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/ 2) Ansicht der Beschaffung »
Dual-Beam-FIB/SEM-Anlage (Los 1/ 2) Ansicht der Beschaffung »
2018-06-11
Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
2017-11-03
FIB mit EBSD, EDX, TOF-SIMS und elektro-thermo-mech. Belastungsmodul (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe)
Die Bereitstellung neuer, hochintegrierter elektronischer Systeme erfordert bei der Produkt- und Technologieentwicklung eine parallele, fundierte thermo-mechanische Zuverlässigkeitsanalyse, um kostenintensive Fehlentwicklungen zu vermeiden. Das ausgeschriebene Focused Ion Beam System (FIB) soll im Zusammenhang mit komplexen Zuverlässigkeitsbewertungen und der Erarbeitung von Versagensvermeidungsstrategien auf der Basis von Physics-of-Failure–Analysen eingesetzt werden. Das Gerät ist für die mikro- und … Ansicht der Beschaffung »
Die Bereitstellung neuer, hochintegrierter elektronischer Systeme erfordert bei der Produkt- und Technologieentwicklung eine parallele, fundierte thermo-mechanische Zuverlässigkeitsanalyse, um kostenintensive Fehlentwicklungen zu vermeiden. Das ausgeschriebene Focused Ion Beam System (FIB) soll im Zusammenhang mit komplexen Zuverlässigkeitsbewertungen und der Erarbeitung von Versagensvermeidungsstrategien auf der Basis von Physics-of-Failure–Analysen eingesetzt werden. Das Gerät ist für die mikro- und … Ansicht der Beschaffung »
2017-04-04
Multifunktionales-Rasterelektronenmikroskop (Technische Universität Chemnitz)
Lieferung und Installation eines Multifunktionalen-Rasterelektronenmikroskops (ein Kombinationsgerät aus Rasterelektronenmikroskop und Rasterionenmikroskop). Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation eines Multifunktionalen-Rasterelektronenmikroskops (ein Kombinationsgerät aus Rasterelektronenmikroskop und Rasterionenmikroskop). Ansicht der Beschaffung »
2016-08-09
Beschaffung eines Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM) (Hochschule für Angewandte Wissenschaften München)
Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM). Ansicht der Beschaffung »
Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM). Ansicht der Beschaffung »
2016-06-03
STED-MFIS Mikroskop (Heinrich-Heine-Universität Düsseldorf)
STED-MFIS Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
STED-MFIS Mikroskop. Ansicht der Beschaffung »
2014-07-07
Lieferung und Installation eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und... (Kurt-Schwabe-Institut für Mess- und Sensortechnik e. V. Meinsberg)
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und … Ansicht der Beschaffung »
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und … Ansicht der Beschaffung »
2014-03-20
Zweistrahlgerät FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik (Technische Universität Chemnitz, Zentrale Beschaffung)
Lieferung und Installation eines Zweistrahlgerätes FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik. Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation eines Zweistrahlgerätes FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik. Ansicht der Beschaffung »
2013-04-29
Kauf eines Focused Ion Beam Systems (Universität Rostock)
Das Focused Ion Beam System ist für die Ultrastrkturpräparation, insbesondere für TEM-Lamellen, sowohl an polymeren, metallischen oder keramischen Werkstoffen als auch an Hartgewebeproben (Knochen, Zähne) vorgesehen. Ansicht der Beschaffung »
Das Focused Ion Beam System ist für die Ultrastrkturpräparation, insbesondere für TEM-Lamellen, sowohl an polymeren, metallischen oder keramischen Werkstoffen als auch an Hartgewebeproben (Knochen, Zähne) vorgesehen. Ansicht der Beschaffung »
2011-08-09
Konfokales Laserscanning-Mikroskop (Leibniz-Institut für Naturstoff-Forschung und Infektionsbiologie e.V. - Hans-Knöll-Institut-)
Mikroskop, Objektive, PC, Monitor, Tisch und Zubehör. Ansicht der Beschaffung »
Mikroskop, Objektive, PC, Monitor, Tisch und Zubehör. Ansicht der Beschaffung »
2011-05-13
Helium-Ionen-Mikroskop (Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Großforschungsbereich)
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können. Ansicht der Beschaffung »
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können. Ansicht der Beschaffung »
2009-05-30
Ionen- und Molekularmikroskope (Universität Ulm)
Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber: Dual-Strahl Fokussiertes Ionenstrahl-/Elektronenstrahl-Mikroskop (FIB/SEM). Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Dual-Strahl Fokussierten Ionenstrahl-/Elektronenstrahl-Mikroskops (FIB/SEM). Ansicht der Beschaffung »
Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber: Dual-Strahl Fokussiertes Ionenstrahl-/Elektronenstrahl-Mikroskop (FIB/SEM). Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Dual-Strahl Fokussierten Ionenstrahl-/Elektronenstrahl-Mikroskops (FIB/SEM). Ansicht der Beschaffung »