Beschaffungen: Ionenmikroskope
16 archivierte Beschaffungen
Ionenmikroskope wurden von Organisationen wie den folgenden erworben Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13), Ernst- Moritz- Arndt- Universität Greifswald und Forschungsverbund Berlin e.V..
In der Vergangenheit waren die Anbieter in diesem Bereich FEI Deutschland GmbH, Elektronen-Optik-Service GmbH, Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl-Zeiss Microscopy GmbH, TESCAN GmbH und Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH.
- Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) (>20 neue Beschaffungen)
- Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen (12)
- Mikroskope (4)
- Ionen- und Molekularmikroskope
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- Molekularmikroskope
Die jüngsten Beschaffungen von ionenmikroskope in Deutschland
2023-06-26
OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) (Forschungsverbund Berlin e.V.)
Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und … Ansicht der Beschaffung »
Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und … Ansicht der Beschaffung »
2022-03-04
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage Ansicht der Beschaffung »
Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage Ansicht der Beschaffung »
2021-12-20
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) (Philipps-Universität Marburg)
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Ansicht der Beschaffung »
2021-11-02
Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (Universität der Bundeswehr München)
Auftragsgegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) sowie zugehörige Service- und Schulungsleistungen. Ansicht der Beschaffung »
Auftragsgegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) sowie zugehörige Service- und Schulungsleistungen. Ansicht der Beschaffung »
2021-07-28
Focus-Ion-Beam-System (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.)
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
Award of contract for the delivery, installation, commissioning, Factory Acceptance Test and Site Acceptance Test of a UHV Triple Beam System Ansicht der Beschaffung »
2021-04-23
Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen (Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie)
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich … Ansicht der Beschaffung »
2020-01-30
FIB-REM mit LHe-Kryotisch (Los 1) (Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13))
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
Elektronen-Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM). Ansicht der Beschaffung »
2019-07-05
Elektronen-Ionen-Mikroskop (FIB/SEM) (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf e. V.)
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Ansicht der Beschaffung »
2018-06-11
Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
2017-04-04
Multifunktionales-Rasterelektronenmikroskop (Technische Universität Chemnitz)
Lieferung und Installation eines Multifunktionalen-Rasterelektronenmikroskops (ein Kombinationsgerät aus Rasterelektronenmikroskop und Rasterionenmikroskop). Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation eines Multifunktionalen-Rasterelektronenmikroskops (ein Kombinationsgerät aus Rasterelektronenmikroskop und Rasterionenmikroskop). Ansicht der Beschaffung »
2016-08-09
Beschaffung eines Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM) (Hochschule für Angewandte Wissenschaften München)
Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM). Ansicht der Beschaffung »
Die Hochschule München beabsichtigt im Rahmen eines Forschungsprojektes die Beschaffung eines Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM). Ansicht der Beschaffung »
2014-07-07
Lieferung und Installation eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und... (Kurt-Schwabe-Institut für Mess- und Sensortechnik e. V. Meinsberg)
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und … Ansicht der Beschaffung »
Die Ausschreibung umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme (inklusive Schulung) eines hochauflösenden kombinierten Niederspannungsrasterelektronen- und Ionenstrahlmikroskops für materialwissenschaftliche Untersuchungen auf dem Gebiet der modernen Sensorforschung. Dabei stehen insbesondere hoch auflösende Untersuchungen an nanostrukturierten Materialien für die biologisch-physikalische, elektrochemische und Gassensorik sowie die Erweiterung der am Institut vorhandenen abtragenden und … Ansicht der Beschaffung »
2014-03-20
Zweistrahlgerät FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik (Technische Universität Chemnitz, Zentrale Beschaffung)
Lieferung und Installation eines Zweistrahlgerätes FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik. Ansicht der Beschaffung »
Lieferung und Installation eines Zweistrahlgerätes FIB/REM mit Nanomanipulator und Analytik. Ansicht der Beschaffung »
2011-05-13
Helium-Ionen-Mikroskop (Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Großforschungsbereich)
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können. Ansicht der Beschaffung »
Helium basiertes Raster-Ionen-Mikroskop mit einer Auflösung im Subnanometer-Bereich zur Abbildung von organischen und anorganischen Materialien. Das Mikroskop soll zur Abbildung und Strukturierung von mikro- und nanostrukturierten Oberflächen verwendet werden können. Ansicht der Beschaffung »
2010-09-22
Ionenmikroskope (Friedrich-Schiller-Universität Jena)
Helium-Ionenmikroskop. Kauf einess Helium-Ionenmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
Helium-Ionenmikroskop. Kauf einess Helium-Ionenmikroskopes. Ansicht der Beschaffung »
2010-08-13
Ionenmikroskope (Ernst- Moritz- Arndt- Universität Greifswald)
Focuses- Ion- Beam (FIB) Mikroskop mit "Multi- Beam"- System. Das Focused- Ion- Beam Mikroskop wird benötigt für: — präzise Verdünnung der zu untersuchenden Proben für TEM im Nanometerbereich, — verbesserte chemische und kristallographische Charakterisierung im Nanobereich durch kombinierte EDS und EBSD Systeme sowie die Möglichkeit einer dreidimensionalen Bildgebung und zur Durchführung dynamischer Experimente unter kontollierbaren Bedingungen. Ansicht der Beschaffung »
Focuses- Ion- Beam (FIB) Mikroskop mit "Multi- Beam"- System. Das Focused- Ion- Beam Mikroskop wird benötigt für: — präzise Verdünnung der zu untersuchenden Proben für TEM im Nanometerbereich, — verbesserte chemische und kristallographische Charakterisierung im Nanobereich durch kombinierte EDS und EBSD Systeme sowie die Möglichkeit einer dreidimensionalen Bildgebung und zur Durchführung dynamischer Experimente unter kontollierbaren Bedingungen. Ansicht der Beschaffung »