Anbieter: Carl-Zeiss Microscopy GmbH
4 archivierte Beschaffungen
Carl-Zeiss Microscopy GmbH war in der Vergangenheit ein Lieferant von laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser), apparate und Geräte zum Prüfen und Testen und mikroskope.
In der Vergangenheit waren die konkurrierenden Bieter Oxford Instruments GmbH und Physical Electronics GmbH.
Neuere Beschaffungen, bei denen der Anbieter Carl-Zeiss Microscopy GmbH erwähnt wird
2020-07-23
Rasterelektronenmikroskop REM (Römisch-Germanisches Zentralmuseum Leibniz-Forschungsinstitut für Archäologie)
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops für das Labor für „Traceology and Controlled Experiments“ (TraCEr) am Monrepos Archäologischen Forschungszentrum und Museum für menschliche Verhaltensevolution (eine Einrichtung des Römisch Germanischen Zentralmuseums Mainz, Leibniz Forschungsinstitut für Archäologie). Ansicht der Beschaffung »
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops für das Labor für „Traceology and Controlled Experiments“ (TraCEr) am Monrepos Archäologischen Forschungszentrum und Museum für menschliche Verhaltensevolution (eine Einrichtung des Römisch Germanischen Zentralmuseums Mainz, Leibniz Forschungsinstitut für Archäologie). Ansicht der Beschaffung »
2018-06-11
Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal deutsche eVergabe)
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS sucht für das Center für Angewandte Mikrostrukturdiagnostik CAM zur elektrischen Charakterisierung und zur elektronenstrahlbasierten Defektlokalisierung an mikroelektronischen Schaltkreisstrukturen ein Rasterelektronenmikroskop (REM), nachfolgend als „Los 1“ bezeichnet, sowie zur mikrostrukturellen Untersuchung von Materialien der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik eine fokussierende Ionenstrahlanlage (FIB) mit integriertem … Ansicht der Beschaffung »
2016-10-21
Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe)
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in … Ansicht der Beschaffung »
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in … Ansicht der Beschaffung »
2015-01-14
Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskops mit EDX- und EBSD-System sowie Nanoindenter (Technische Universität Dresden)
Das ausgeschriebene Gerätesystem soll im Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) der Technischen Universität Dresden installiert und betrieben werden. Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops mit EDX- und EBSD-System sowie Nanoindenter, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Mit der geplanten Infrastrukturmaßnahme soll im Rahmen des DCN ein Elektronenmikroskop mit … Ansicht der Beschaffung »
Das ausgeschriebene Gerätesystem soll im Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) der Technischen Universität Dresden installiert und betrieben werden. Das Ziel der Ausschreibung ist die Beschaffung eines leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops mit EDX- und EBSD-System sowie Nanoindenter, wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung in die Nutzung, Auswertung und Problembehebung eingeschlossen sind. Mit der geplanten Infrastrukturmaßnahme soll im Rahmen des DCN ein Elektronenmikroskop mit … Ansicht der Beschaffung »