Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in das REM integriert werden muss. Die niedrige elektrische Leitfähigkeit vieler Polymere erfordert REM-Modi mit niedriger Beschleunigungsspannung bzw. Niedervakuum. Das REM ist mit Rückstreudetektor(en) auszustatten. Die Aufstellung des REM mit einer Trittschalldämpfung soll dem Raum angepasst auf einem vorhandenen Betonsockel erfolgen. Für die Röntgenmikroanalyse soll ein EDS-System integriert werden.
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2016-11-08.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2016-10-21.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Auftragsbekanntmachung (2016-10-21) Objekt Umfang der Beschaffung
Titel: Rasterelektronenmikroskope
Referenznummer: E_050_251432 cl-wit
Kurze Beschreibung:
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in das REM integriert werden muss. Die niedrige elektrische Leitfähigkeit vieler Polymere erfordert REM-Modi mit niedriger Beschleunigungsspannung bzw. Niedervakuum. Das REM ist mit Rückstreudetektor(en) auszustatten.
Die Aufstellung des REM mit einer Trittschalldämpfung soll dem Raum angepasst auf einem vorhandenen Betonsockel erfolgen.
Für die Röntgenmikroanalyse soll ein EDS-System integriert werden.
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in das REM integriert werden muss. Die niedrige elektrische Leitfähigkeit vieler Polymere erfordert REM-Modi mit niedriger Beschleunigungsspannung bzw. Niedervakuum. Das REM ist mit Rückstreudetektor(en) auszustatten.
Die Aufstellung des REM mit einer Trittschalldämpfung soll dem Raum angepasst auf einem vorhandenen Betonsockel erfolgen.
Für die Röntgenmikroanalyse soll ein EDS-System integriert werden.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union, mit GPA-Beteiligung
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Rasterelektronenmikroskope📦 Ort der Leistung
NUTS-Region: de423 🏙️
Verfahren
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot
Öffentlicher Auftraggeber Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. über Vergabeportal eVergabe
Postanschrift: Hansastr. 27 c
Postleitzahl: 80686
Postort: München
Kontakt
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de🌏
E-Mail: fraunhofer@deutsche-evergabe.de📧
URL der Dokumente: http://www.deutsche-evergabe.de🌏
URL der Teilnahme: http://www.deutsche-evergabe.de🌏
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) – Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist.
Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses.
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) – Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist.
Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses.
Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in das REM integriert werden muss. Die niedrige elektrische Leitfähigkeit vieler Polymere erfordert REM-Modi mit niedriger Beschleunigungsspannung bzw. Niedervakuum. Das REM ist mit Rückstreudetektor(en) auszustatten.
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist vorwiegend für die Untersuchung von Polymeren in verschiedenen Herstellungsformen, deren Compounds und Composite vorgesehen. Als Zusätze kommen organische als auch anorganische Materialien (darunter auch magnetische Partikel), ebenfalls in unterschiedlicher Darstellungsform, zum Einsatz. Die Polymerproben liegen in unterschiedlichen Verarbeitungszuständen, insbesondere auch initialfeucht vor, so dass ein vorhandenes Kryo-Transfer-System (Alto 2500, Gatan Inc.) in das REM integriert werden muss. Die niedrige elektrische Leitfähigkeit vieler Polymere erfordert REM-Modi mit niedriger Beschleunigungsspannung bzw. Niedervakuum. Das REM ist mit Rückstreudetektor(en) auszustatten.
Die Aufstellung des REM mit einer Trittschalldämpfung soll dem Raum angepasst auf einem vorhandenen Betonsockel erfolgen.
Für die Röntgenmikroanalyse soll ein EDS-System integriert…
… werden.
… werden. In die Beschaffung eingeschlossen ist eine aktive Magnetfeldkompensation, die an vorinstallierte Helmholtzspulen angeschlossen werden soll.
Dauer: 6 Monate Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: 14476 Golm.
Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen Auftragsausführung
Bedingungen für die Vertragserfüllung:
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Verfahren
Beschleunigtes Verfahren: Nachbeschaffung eines defekten nicht mehr reparablen Gerätes.
Zeitpunkt des Eingangs der Angebote: 23:59
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch 🗣️
Gültigkeitsdauer des Angebots: 2016-12-08 📅
Datum der Angebotseröffnung: 2016-11-09 📅
Zeitpunkt der Angebotseröffnung: 14:00
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) – Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
— Anforderung Unterlagen – erhältlich bei: Die Vergabeunterlagen können ausschließlich über das Vergabeportal der deutschen e-Vergabe unter www.deutsche-evergabe.de abgerufen werden. – Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) – Fragen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden. Soweit relevant, werden Antworten auf Fragen oder Hinweise der Bieter auch an alle anderen Bieter versandt.
Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist.
Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses.
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Name: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB informiert.
Dienststelle, bei der Informationen über das Überprüfungsverfahren eingeholt werden können
Name: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe
Postanschrift: Hansastraße 27c
Postort: München
Postleitzahl: 80686
E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de📧
Internetadresse: http://www.fraunhofer.de🌏
Quelle: OJS 2016/S 207-374396 (2016-10-21)
Ergänzende Angaben (2016-11-07) Objekt Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Ergänzende Angaben
Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2017-01-31) Objekt Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung: Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop.
Gesamtwert des Auftrags: 0.01 EUR 💰
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge
Verfahren
Angebotsart: Entfällt
Öffentlicher Auftraggeber Kontakt
Telefon: +49 891205-3229📞
Fax: +49 891205-7547 📠
Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2017-01-11 📅
Öffentlicher Auftraggeber Kontakt
Kontaktperson: Carla Lönz
Ergänzende Informationen Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des § 107 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. § 101a GWB informiert.
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des § 107 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. § 101a GWB informiert.
Für Mediationsverfahren zuständige Stelle
Name: Vergabeprüfstelle des BMBF, Referat Z 23
Postanschrift: Heinemannstr. 2
Postort: Bonn
Postleitzahl: 53175
Land: Deutschland 🇩🇪
Quelle: OJS 2017/S 023-039252 (2017-01-31)