Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop zur:
— Untersuchung metallischer und keramischer Werkstoffe, Schichtsysteme, evtl. Polymere,
— Schadensanalyse (v. a. Fraktographie) unter anderem für Prüfaufträge und Gerichtsgutachten,
— Qualitätssicherung (z. B. Werkstoff- und Gefügecharakterisierung von Gefahrgut-Behältern),
— Phasencharakterisierung von Betonen,
— Bereitstellung für Service- und Dienstleistungen im Multiuser-Betrieb (ein Administrator, mehrere Operateure)
gemäß anzufordernder Vergabeunterlagen unter der Angabe der Bearbeitungsnummer 67/13.
Aufgabe des Hochgeschwindigkeitskameramesssystems ist die direkte und berührungslose Messung des 3D-Verformungsverhaltens einer Probe bei hochdynamischer Beanspruchung (Dehnraten bis 104 s-1) mittels Split Hopkinson Pressure Bar (SHPB) unter Nutzung des Grauwertkorrelations-verfahrens (Digital Image Correlation, DIC).
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-01-20.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-12-02.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2013-12-02
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Auftragsbekanntmachung
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| 2013-12-04
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Ergänzende Angaben
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| 2014-02-25
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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