Zweistrahl-Rastermikroskop
Zweistrahl-Rastermikroskop mit Elektronen- und Ionenstrahl (REM + FIB) zum Einsatz im Kontrollbereich
— Beschleunigungsspannung bis 3 kV
— Ga-Ionensäule
Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2013-06-17.
Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2013-05-10.
Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?
Wie?
Wo?
Geschichte der Beschaffung
| Datum |
Dokument |
| 2013-05-10
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Auftragsbekanntmachung
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| 2013-11-12
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Bekanntmachung über vergebene Aufträge
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