Beschaffung eines Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (DFG-GZ: A 696)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Es soll ein Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskop (FIB-SEM) angeschafft werden. Das anzuschaffende FIB-SEM dient der dreidimensionalen ultrastrukturellen Analyse neuronalen Gewebes. Es soll im Rahmen von Projekten zum Einsatz kommen, die die hochaufgelöste Darstellung von Geweben aus degenerativen, entzündlichen oder vaskulären neurologischen Erkrankungen umfassen. Hierbei ist von besonderer Bedeutung die Darstellung subzellulärer Strukturen im Gewebekontext mit maximaler (und isotroper) Auflösung in 3D. Zusätzlich ist eine Kompatibilität und ein existierender Workflow für die korrelierte Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM) in ntakten Geweben, z. B. basierend auf der „Near Infrared Branding“ – Technologie (NIRB), erwünscht.
Technische Anforderungen.
Angesichts dieser Nutzungsanforderungen werden die folgenden technischen Eigenschaften als notwendig erachtet:
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit (Gallium-) Ionenquelle zum Abtragen Nanometer-dicker Gewebsschichten (FIB-SEM) mit der Option des simultanen Gewebsabtrags mittels FIB und Bildgebung durch SEM. Gallium- Ionenquelle mit Option auf hohe Strahlströme (> 70 nA).
Eignung für die Verwendung für die CLEM; Vorliegen geeigneter Workflows zur Re- Identifizierung im Lichtmikroskop dargestellter Strukturen; Kompatibilität mit NIRB- Technologie und neuen seriellen Schnitttechniken und molekularen Analyseverfahren z. B. automated tape lathe ultramicrotomy (ATUM) und array tomography (AT).
Flexibilität im Betrieb bzgl. Vakuum und Schleusengestaltung zur Erweiterung der Anwendungsmöglichkeiten, z. B. durch Einschluss eines Transmissionsdetektors.
Möglichkeit der multimodalen Bildgebung durch Integrierbarkeit multipler Detektoren und deren parallelem Betrieb.
Hohe mechanische und elektromagnetische Toleranz zum Betrieb als zentrale Einrichtung in einem Forschungszentrum; Option der zusätzlich mechanischen und elektromagnetischen Abschirmung.

Deadline
Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-12-29. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-11-24.

Anbieter
Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:
Wer?

Wie?

Wo?

Geschichte der Beschaffung
Datum Dokument
2014-11-24 Auftragsbekanntmachung
2015-05-12 Bekanntmachung über vergebene Aufträge