Beschaffung eines Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (DFG-GZ: A 696)

Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Es soll ein Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskop (FIB-SEM) angeschafft werden. Das anzuschaffende FIB-SEM dient der dreidimensionalen ultrastrukturellen Analyse neuronalen Gewebes. Es soll im Rahmen von Projekten zum Einsatz kommen, die die hochaufgelöste Darstellung von Geweben aus degenerativen, entzündlichen oder vaskulären neurologischen Erkrankungen umfassen. Hierbei ist von besonderer Bedeutung die Darstellung subzellulärer Strukturen im Gewebekontext mit maximaler (und isotroper) Auflösung in 3D. Zusätzlich ist eine Kompatibilität und ein existierender Workflow für die korrelierte Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM) in ntakten Geweben, z. B. basierend auf der „Near Infrared Branding“ – Technologie (NIRB), erwünscht.
Technische Anforderungen.
Angesichts dieser Nutzungsanforderungen werden die folgenden technischen Eigenschaften als notwendig erachtet:
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit (Gallium-) Ionenquelle zum Abtragen Nanometer-dicker Gewebsschichten (FIB-SEM) mit der Option des simultanen Gewebsabtrags mittels FIB und Bildgebung durch SEM. Gallium- Ionenquelle mit Option auf hohe Strahlströme (> 70 nA).
Eignung für die Verwendung für die CLEM; Vorliegen geeigneter Workflows zur Re- Identifizierung im Lichtmikroskop dargestellter Strukturen; Kompatibilität mit NIRB- Technologie und neuen seriellen Schnitttechniken und molekularen Analyseverfahren z. B. automated tape lathe ultramicrotomy (ATUM) und array tomography (AT).
Flexibilität im Betrieb bzgl. Vakuum und Schleusengestaltung zur Erweiterung der Anwendungsmöglichkeiten, z. B. durch Einschluss eines Transmissionsdetektors.
Möglichkeit der multimodalen Bildgebung durch Integrierbarkeit multipler Detektoren und deren parallelem Betrieb.
Hohe mechanische und elektromagnetische Toleranz zum Betrieb als zentrale Einrichtung in einem Forschungszentrum; Option der zusätzlich mechanischen und elektromagnetischen Abschirmung.

Deadline

Die Frist für den Eingang der Angebote war 2014-12-29. Die Ausschreibung wurde veröffentlicht am 2014-11-24.

Anbieter

Die folgenden Lieferanten werden in Vergabeentscheidungen oder anderen Beschaffungsunterlagen erwähnt:

• Carl Zeiss Microscopy GmbH

Wer?

• Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle

Wie?

• Mikroskope › Elektronenmikroskope

Wo?

• Oberbayern › München, Kreisfreie Stadt

Geschichte der Beschaffung

Datum	Dokument
2014-11-24	Auftragsbekanntmachung
2015-05-12	Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Auftragsbekanntmachung (2014-11-24)
Objekt
Umfang der Beschaffung
Titel: Elektronenmikroskope
Menge oder Umfang: 1 System.
Metadaten der Bekanntmachung
Originalsprache: Deutsch 🗣️
Dokumenttyp: Auftragsbekanntmachung
Art des Auftrags: Lieferungen
Verordnung: Europäische Union
Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
Code: Elektronenmikroskope 📦

Verfahren
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren
Angebotsart: Angebot für alle Lose
Vergabekriterien
Wirtschaftlichstes Angebot

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Land: Deutschland 🇩🇪
Art des öffentlichen Auftraggebers: Sonstiges
Name des öffentlichen Auftraggebers: Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Postanschrift: Kennedyallee 40
Postleitzahl: 53175
Postort: Bonn
Kontakt
Internetadresse: http://www.dfg.de 🌏
E-Mail: ute.breuer@dfg.de 📧
Telefon: +49 2288852474 📞
Fax: +49 2288853676 📠

Referenz
Daten
Absendedatum: 2014-11-24 📅
Einreichungsfrist: 2014-12-29 📅
Veröffentlichungsdatum: 2014-11-27 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2014/S 229-403859
ABl. S-Ausgabe: 229
Zusätzliche Informationen

Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben. Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.3.4) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.

Objekt
Umfang der Beschaffung
Kurze Beschreibung:

Technische Anforderungen.

Angesichts dieser Nutzungsanforderungen werden die folgenden technischen Eigenschaften als notwendig erachtet:

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit (Gallium-) Ionenquelle zum Abtragen Nanometer-dicker Gewebsschichten (FIB-SEM) mit der Option des simultanen Gewebsabtrags mittels FIB und Bildgebung durch SEM. Gallium- Ionenquelle mit Option auf hohe Strahlströme (> 70 nA).

Eignung für die Verwendung für die CLEM; Vorliegen geeigneter Workflows zur Re- Identifizierung im Lichtmikroskop dargestellter Strukturen; Kompatibilität mit NIRB- Technologie und neuen seriellen Schnitttechniken und molekularen Analyseverfahren z. B. automated tape lathe ultramicrotomy (ATUM) und array tomography (AT).

Flexibilität im Betrieb bzgl. Vakuum und Schleusengestaltung zur Erweiterung der Anwendungsmöglichkeiten, z. B. durch Einschluss eines Transmissionsdetektors.

Möglichkeit der multimodalen Bildgebung durch Integrierbarkeit multipler Detektoren und deren parallelem Betrieb.

Hohe mechanische und elektromagnetische Toleranz zum Betrieb als zentrale Einrichtung in einem Forschungszentrum; Option der zusätzlich mechanischen und elektromagnetischen Abschirmung.

Es werden Varianten akzeptiert ✅
Referenznummer: EXC 1010/2014 (A 696)
Ort der Leistung
Hauptstandort oder Erfüllungsort: TU München.

Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Informationen
Auftragsausführung
Wichtigste Finanzierungsbedingungen und Zahlungsmodalitäten und/oder Verweis auf die einschlägigen Bestimmungen, die sie regeln:

Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

Verfahren
Datum der Absendung der Aufforderungen: 2015-01-08 📅
Vergabekriterien
Kriterium: 1. Technischer Wert (50)
2. Preis (50)
Sprachen
Sprache: Deutsch 🗣️

Öffentlicher Auftraggeber
Identität
Andere Art des öffentlichen Auftraggebers: Other
Kontakt
Kontaktperson: Frau Ute Breuer
Internetadresse: www.dfg.de 🌏

Referenz
Kennungen
Vom öffentlichen Auftraggeber vergebene Referenznummer: EXC 1010/2014 (A 696)
Zusätzliche Informationen

Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben.

Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.3.4) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.

Ergänzende Informationen
Körper überprüfen
Informationen zu Fristen für Nachprüfungsverfahren:

Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes, Villemombler Str. 76, 53123 Bonn zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten wir eine entsprechende Information.

Quelle: OJS 2014/S 229-403859 (2014-11-24)

Bekanntmachung über vergebene Aufträge (2015-05-12)
Objekt
Metadaten der Bekanntmachung
Dokumenttyp: Bekanntmachung über vergebene Aufträge

Verfahren
Angebotsart: Entfällt

Referenz
Daten
Absendedatum: 2015-05-12 📅
Veröffentlichungsdatum: 2015-05-16 📅
Kennungen
Bekanntmachungsnummer: 2015/S 094-169424
Verweist auf Bekanntmachung: 2014/S 229-403859
ABl. S-Ausgabe: 94

Objekt
Umfang der Beschaffung
Referenznummer: EXC 1010/2014 (A 696)-3013217

Auftragsvergabe
Datum des Vertragsabschlusses: 2015-04-10 📅
Name: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Postanschrift: Carl-Zeiss-Straße 22
Postort: Oberkochen
Postleitzahl: 73447
Land: Deutschland 🇩🇪
Informationen über Ausschreibungen
Anzahl der eingegangenen Angebote: 2
Quelle: OJS 2015/S 094-169424 (2015-05-12)

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